【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于光学测量，具体为一种用于磁光克尔测量的模式切换设备及其切换方法。
技术介绍
1、用于磁光克尔测量中的模式切换设备，是指能够改变样品光照射方式或光路的装置，主要目的是在测量过程中切换不同的磁化状态或不同的光学模式，以便得到准确的磁光克尔效应信号。
2、现有技术中的用于磁光克尔测量的模式切换设备，在使用过程中，由于测量过程中，需要进行测量模式的切换，针对待测样品实现全面的测量处理，并反映出待测件的真实光学性能，并适应不同的实验需求，然而在实际测量过程中，实际切换操作不便，可以切换处理的模式有限，难以实现全面多需求的切换测量，使用效果不佳。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于磁光克尔测量的模式切换设备及其切换方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为了实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于磁光克尔测量的模式切换设备及其切换方法，包括底座，开设在底座顶部的顶部口，以及设置在底座内部的永磁体，所述底座的顶部固定连接有固定夹框，所述...
【技术保护点】
1.一种用于磁光克尔测量的模式切换设备，包括底座(1)，开设在底座(1)顶部的顶部口(2)，以及设置在底座(1)内部的永磁体(16)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定连接有固定夹框(4)，所述固定夹框(4)的上方设有活动夹框(3)，所述活动夹框(3)的外侧固定设有负压联动机构(5)，所述底座(1)的正面设有负压控制机构，所述负压控制机构通过负压联动机构控制活动夹框(3)下移，所述底座(1)的顶部固定设有驱动转动组件，所述底座(1)的顶部固定连接有立板(20)，所述立板(20)的正面转动设有安装组件(13)，所述安装组件(13)的内部转动设有切换组件(14)，所述切...
【技术特征摘要】
1.一种用于磁光克尔测量的模式切换设备，包括底座(1)，开设在底座(1)顶部的顶部口(2)，以及设置在底座(1)内部的永磁体(16)，其特征在于：所述底座(1)的顶部固定连接有固定夹框(4)，所述固定夹框(4)的上方设有活动夹框(3)，所述活动夹框(3)的外侧固定设有负压联动机构(5)，所述底座(1)的正面设有负压控制机构，所述负压控制机构通过负压联动机构控制活动夹框(3)下移，所述底座(1)的顶部固定设有驱动转动组件，所述底座(1)的顶部固定连接有立板(20)，所述立板(20)的正面转动设有安装组件(13)，所述安装组件(13)的内部转动设有切换组件(14)，所述切换组件(14)的外侧固定连接有激光器(15)，所述驱动转动组件控制安装组件(13)偏转。
2.根据权利要求1所述的一种用于磁光克尔测量的模式切换设备，其特征在于：所述驱动转动机构包括支架(10)、齿轮一(11)和齿轮二(12)，所述支架(10)中设有电机，所述齿轮一(11)固定连接在电机的输出轴上，所述齿轮二(12)固定在安装组件(13)的一端，所述齿轮二(12)与齿轮一(11)啮合连接。
3.根据权利要求2所述的一种用于磁光克尔测量的模式切换设备，其特征在于：所述安装组件(13)包括转动轴(131)、安装头(132)和适配槽(133)，所述转动轴(131)通过轴承转动安装在立板(20)上，所述安装头(132)固定连接在转动轴(131)的端部上，所述适配槽(133)开设在安装头(132)的底部。
4.根据权利要求3所述的一种用于磁光克尔测量的模式切换设备，其特征在于：所述切换组件(14)包括安装块(141)、固定轴(142)、齿轮三(143)、齿板(144)和电动推杆(145)，所述安装块(141)活动设置在适配槽(133)中，所述固定轴(142)固定连接在安装块(141)的正面，且固定轴(142)转动套设在安装头(132)的正面，所述齿轮三(143)固定套接在固定轴(142)的外侧面上，所述电动推杆(145)固定在安装头(132)上，所述电动推杆(145)的活动端与齿板(144)固定连接，且齿板(144)与齿...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈雨璐，王文翌，王福梅，
申请(专利权)人：苏州科晓电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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