一种大面积微单晶阵列加工方法技术

技术编号:46455928 阅读:4 留言:0更新日期:2025-09-23 22:21
本发明专利技术公开了一种大面积微单晶阵列加工方法,该方法通过大面积微单晶阵列加工设备实现,所述设备包括:对准系统、对准平台、显示装置、控制装置、样品台以及操作装置;所述方法包括:S1、通过光刻和刻蚀加工出阵列硅柱模板;S2、将有机半导体溶液滴加在阵列硅柱模板上;S3、通过软件控制对准系统和对准平台以使硅柱和衬底对准后按压,并在样品台上完成微单晶阵列的自组装,从而完成微单晶阵列的制备。本发明专利技术的制备方法,通过采用大面积微单晶阵列加工设备,实现了硅柱和衬底的精确对准,确保了单晶阵列的大面积一致性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术实施例涉及阵列加工,尤其涉及一种大面积微单晶阵列加工方法


技术介绍

1、在光电器件以及柔性电子等领域,大面积微单晶阵列因其卓越的电学、光学性能和高度一致性而备受关注。随着这些领域技术的飞速发展,对大面积微单晶阵列制备技术的需求日益迫切,相关加工方法已成为研究热点。

2、传统加工方法在大面积微单晶阵列制备方面存在诸多局限。例如微米压印法,虽能通过模具压印使溶液填充微纳结构形成阵列,但模具制作成本高、精度要求苛刻,且易损耗。喷墨打印法则因墨水在基板上易扩散,导致图案精度欠佳,喷嘴还易堵塞,影响加工稳定性。液相浸涂法操作简便,适合大面积,但晶体生长方向和尺寸难以精准控制,影响阵列质量和性能。这些传统方法难以满足当下对大面积、高精度微单晶阵列的需求。


技术实现思路

1、本专利技术提供一种大面积微单晶阵列加工方法,以解决有机液相加工中难以大面积加工的问题。

2、本专利技术实施例提供了一种大面积微单晶阵列加工方法,该方法通过大面积微单晶阵列加工设备实现,所述设备包括:对准系统、对准平台本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种大面积微单晶阵列加工方法,其特征在于,所述方法通过大面积微单晶阵列加工设备实现,所述设备包括:对准系统、对准平台、显示装置、控制装置、样品台以及操作装置;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述S1具体包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述阵列硅柱模板中硅柱的宽为2-5μm,间隔为5-10μm,高为12-18μm。

4. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有机半导体溶液滴的溶积为5-15μL,溶剂为氯仿或甲苯,浓度为1-10 mg/ml。

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述对...

【技术特征摘要】

1.一种大面积微单晶阵列加工方法,其特征在于,所述方法通过大面积微单晶阵列加工设备实现,所述设备包括:对准系统、对准平台、显示装置、控制装置、样品台以及操作装置;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述s1具体包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述阵列硅柱模板中硅柱的宽为2-5μm,间隔为5-10μm,高为12-18μm。

4. 根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述有机半导体...

【专利技术属性】
技术研发人员:江亮屈芙蓉夏洋高寒飞朱忠鹏杨俊川谢超杨宝翔陈俊豪张超
申请(专利权)人:苏州仿生材料科学与工程中心
类型:发明
国别省市:

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