一种双卷边形式的探针制造技术

技术编号:46401088 阅读:6 留言:0更新日期:2025-09-16 19:51
本技术公开了一种双卷边形式的探针,涉及探针技术领域,该双卷边形式的探针,包括针管,所述针管的一侧设置有针头组件,所述针管的一端边缘处设置有第一卷曲槽,所述第一卷曲槽的一侧设置有第二卷曲槽,所述针管的另一端设置有圆弧端头,所述针管的内部设置有针管槽,且针管槽的一端为开口形式,所述针管槽的内部设置有压缩弹簧,且针头组件沿着针管槽移动,对压缩弹簧进行挤压,所述针头组件包括针体部和限位移动体,所述限位移动体的一端设置有尖端头,本方案解决了现有ICT探针的针管接触端多数都是单层卷曲,接触点面积有限,在长期使用过程中会导致接触不良、易磨损、稳定性不足,从而影响测试结果的问题。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及探针,具体为一种双卷边形式的探针


技术介绍

1、随着电子技术的飞速发展,对电子元件的测试要求也越来越高,ict探针作为电子测试中的关键工具,其性能直接影响着测试的准确性和效率;

2、例如公告号为cn201993392u的中国专利(一种ict测试探针):包括针管,针管形成一中空管,针管的前端设有轴向的插道,针管的尾部设有凸台;所述插道内可以放置探针的针体,针体连接一探测头;所述针管的插道可贯穿所述的针体;所述探测头的顶部呈齿口状或者探测头的顶部呈三角锥状,在使用时,将针体插于针管的前端,测试时探测头与测试点接触,针管的后方连接导线,针管通过导线与测试机相连。根据不同测试点的类型可更换不同的探测头。

3、但是,现有ict探针的针管接触端多数都是单层卷曲,接触点面积有限,在长期使用过程中会导致接触不良、易磨损、稳定性不足,从而影响测试结果;因此,不满足现有的需求,对此我们提出了一种双卷边形式的探针。


技术实现思路

1、本技术的目的在于提供一种双卷边形式的探针,以解决上述
技术介绍
中本文档来自技高网
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【技术保护点】

1.一种双卷边形式的探针,包括针管(1),其特征在于:所述针管(1)的一侧设置有针头组件(2),所述针管(1)的一端边缘处设置有第一卷曲槽(3),所述第一卷曲槽(3)的一侧设置有第二卷曲槽(4),所述针管(1)的另一端设置有圆弧端头(5),所述针管(1)的内部设置有针管槽(6),且针管槽(6)的一端为开口形式,所述针管槽(6)的内部设置有压缩弹簧(7),且针头组件(2)沿着针管槽(6)移动,对压缩弹簧(7)进行挤压。

2.根据权利要求1所述的一种双卷边形式的探针,其特征在于:所述针头组件(2)包括针体部(8)和限位移动体(9),所述限位移动体(9)的一端设置有尖端头(12),...

【技术特征摘要】

1.一种双卷边形式的探针,包括针管(1),其特征在于:所述针管(1)的一侧设置有针头组件(2),所述针管(1)的一端边缘处设置有第一卷曲槽(3),所述第一卷曲槽(3)的一侧设置有第二卷曲槽(4),所述针管(1)的另一端设置有圆弧端头(5),所述针管(1)的内部设置有针管槽(6),且针管槽(6)的一端为开口形式,所述针管槽(6)的内部设置有压缩弹簧(7),且针头组件(2)沿着针管槽(6)移动,对压缩弹簧(7)进行挤压。

2.根据权利要求1所述的一种双卷边形式的探针,其特征在于:所述针头组件(2)包括针体部(8)和限位移动体(9),所述限位移动体(9)的一端设置有尖端头(12),且尖端头(12)与限位移动体(9)为一体结构。

3.根据权利要求2所述的一种双卷边形...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹会杰朱勤伟
申请(专利权)人:华杰智能科技苏州有限公司
类型:新型
国别省市:

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