【技术实现步骤摘要】
本技术涉及探针，具体为一种具有多点铆合结构的探针。
技术介绍
1、随着电子技术的飞速发展，对电子元件的测试要求也越来越高，ict探针作为电子测试中的关键工具，其性能直接影响着测试的准确性和效率；
2、例如公告号为cn206193057u的中国授权专利（一种皇冠测头探针）：包括外管和皇冠测头，外管内设置有弹簧组件，外管的两端分别开设开口一和开口二，外管开口一处的内壁上开设有内螺纹，外管开口一出还设置有固定塞，固定塞上开设有与外管内螺纹相匹配的外螺纹，固定塞上还固定有一弹簧定位杆，弹簧定位杆包括连杆和定位头，弹簧组件的一端套设在定位头上，弹簧组件的另一端设置有连杆组件，连杆组件包括杆件一和杆件二，杆件二上开设有安装孔，皇冠测头通过紧定螺钉一和紧定螺钉二固定在杆件二上。本技术具有较高的精密度，且便于替换皇冠测头的优点。
3、但是，现有弹簧探针铆合技术存在铆合点数量不足、铆合强度不够、位置精度不高等现象，无法满足对半导体芯片进行精确和高效测试的需求，导致测试效果差；因此，不满足现有的需求，对此我们提出了一种具有多点铆合结
<本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种具有多点铆合结构的探针，包括针管（1），其特征在于：所述针管（1）的一端设置有测头组件（2），所述针管（1）的另一端设置有定位组件（4），所述针管（1）靠近测头组件（2）一端的外壁设置有铆点（3），且铆点（3）设置有八个，所述针管（1）的内部设置有移动槽（17），所述移动槽（17）的内部设置有压缩弹簧（9）。
2.根据权利要求1所述的一种具有多点铆合结构的探针，其特征在于：所述测头组件（2）包括皇冠测头（10）和第一连接座（11），所述第一连接座（11）的一侧设置有第二连接座（12），且第一连接座（11）和第二连接座（12）为一体结构，所述第一连接...
【技术特征摘要】
1.一种具有多点铆合结构的探针，包括针管（1），其特征在于：所述针管（1）的一端设置有测头组件（2），所述针管（1）的另一端设置有定位组件（4），所述针管（1）靠近测头组件（2）一端的外壁设置有铆点（3），且铆点（3）设置有八个，所述针管（1）的内部设置有移动槽（17），所述移动槽（17）的内部设置有压缩弹簧（9）。
2.根据权利要求1所述的一种具有多点铆合结构的探针，其特征在于：所述测头组件（2）包括皇冠测头（10）和第一连接座（11），所述第一连接座（11）的一侧设置有第二连接座（12），且第一连接座（11）和第二连接座（12）为一体结构，所述第一连接座（11）和第二连接座（12）连接处的外表面设置有内凹槽（14），所述第二连接座（12）的一端设置有第一尖端插座（13），且第一尖端插座（13）的一端插入压缩弹簧（9）一端内部，压缩弹簧（9）一端与第二连接座（12）相抵接。
3.根据权利要求1所述的一种具有多点铆合结构的探针，其特征在于：所述定位组件（4）包括定位杆（5）和限位体（15），所述限位体（15）的一侧设置有...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹会杰，朱勤伟，
申请(专利权)人：华杰智能科技苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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