一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术属于核辐射探测领域，具体涉及一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置及方法，所示装置包括：柔性夹具、准直放射源、限光阀、光电倍增管、屏蔽容器、遮光盖、高压电源、能谱仪、计算机；所述准直放射源放置在柔性夹具正上方；所述柔性夹具放置在光电倍增管正上方；所述光电倍增管与所述柔性夹具接触的一面覆盖有所述限光阀；测试期间放置在所述遮光容器内部，并通过遮光盖密封；所述遮光容器底部设置有出线孔，所述光电倍增管的连接线穿过所述出线孔与所述高压电源和多道所述能谱仪连接；所述能谱仪与所述计算机连接。本发明专利技术解决了大尺寸闪烁晶体在测量中面临的问题，保证测量的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于核辐射探测领域，具体涉及一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置及方法。

技术介绍

1、闪烁晶体的光输出性能是衡量其探测效率的核心指标，直接影响辐射探测器的信噪比、能量分辨率和灵敏度。高光输出性能可增强微弱信号的提取能力，提升探测精度，适用于医疗成像(如pet)、高能物理实验、核辐射监测及安全检查等领域。在闪烁晶体光输出测试中多采用相对光输出测试方法，该方法测量简单，快捷，适用于大批量晶体测试。

2、但是在大尺寸闪烁晶体相对光输出测试中，存在以下几个难点：1)难以找到与大尺寸晶体相匹配的光电倍增管。2)晶体尺寸或许有差异，比如晶棒切割成等厚的晶饼后，需要做出厂测试，此时晶饼的厚度一致，但是直径有些差异，如何消除尺寸不同导致晶体边缘光反射不同带来的测试结果差异。

技术实现思路

1、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置及方法。

2、一方面，本专利技术提供一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，包括：柔性夹具、准直放射源本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，包括；柔性夹具、准直放射源、限光阀、光电倍增管、屏蔽容器、遮光盖、高压电源、能谱仪、计算机；

2.根据权利要求1所述的一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，所述套筒内部涂有超黑涂层，能够有效吸收光子，阻止光子在边缘反射。

3.根据权利要求1所述的一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，所述准直放射源外部包裹着铅块，内部放射源为137Cs，能够提供一个垂直向下的伽马射线。

4.根据权利要求1所述的一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，包括；柔性夹具、准直放射源、限光阀、光电倍增管、屏蔽容器、遮光盖、高压电源、能谱仪、计算机；

2.根据权利要求1所述的一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，所述套筒内部涂有超黑涂层，能够有效吸收光子，阻止光子在边缘反射。

3.根据权利要求1所述的一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置，其特征在于，所述准直放射源外部包裹着铅块，内部放射源为137cs，能够...

【专利技术属性】
技术研发人员：宋宝林，陶祖才，王强，蒋赟睿，谢玉清，肖雄，万前银，张泽涛，丁雨憧，
申请(专利权)人：中电科芯片技术集团有限公司，
类型：发明
国别省市：