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本发明属于核辐射探测领域，具体涉及一种用于评价大尺寸闪烁晶体相对光输出性能的装置及方法，所示装置包括：柔性夹具、准直放射源、限光阀、光电倍增管、屏蔽容器、遮光盖、高压电源、能谱仪、计算机；所述准直放射源放置在柔性夹具正上方；所述柔性夹具放置...
该专利属于中电科芯片技术（集团）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科芯片技术（集团）有限公司授权不得商用。

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