【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电探测，具体涉及一种提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置。
技术介绍
1、紫外光电子谱(ups,ultraviolet photoelectron spectroscopy)分析仪是一种研究材料表面电子结构的仪器，广泛用于电子能态分析、表面化学分析、航天材料评估、半导体器件优化等方面。
2、紫外光电子能谱分析仪用于测量材料在紫外波段的光电子发射产额谱。该产额通过计算材料表面单位面积、单位时间内逸出的光电子数与入射光子数之比来确定，因此，分析仪需具备精确测量对应入射光波长的光子数与光电子数的能力。
3、光电子数的测量由通道电子倍增器完成。氘灯发出的光经单色器分光后进入真空系统，照射样品台激发光电子，部分光电子在电场力作用下被通道电子倍增器入口收集并倍增，最终倍增电子被阳极收集，通过信号线传输至真空腔外的光电子计数器实现精确计数。
4、光电子收集效率为通道电子倍增器收集的光电子数与样品表面发射的光电子数的比值。收集是准确测量光电子发射产额谱的关键环节，直接影响着设备的探测效...
【技术保护点】
1.一种提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于，包括：聚焦电极、绝缘垫片、金属保护桶、阳极、供电及信号引出线；
2.根据权利要求1所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述聚焦电极的形状为中空半圆桶电极。
3.根据权利要求2所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述的绝缘垫片的形状也为中空半圆桶形，其所在整圆的内径和外径、弓高与聚焦电极的对应参数一致。
4.根据权利要求1所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于...
【技术特征摘要】
1.一种提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于，包括：聚焦电极、绝缘垫片、金属保护桶、阳极、供电及信号引出线；
2.根据权利要求1所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述聚焦电极的形状为中空半圆桶电极。
3.根据权利要求2所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述的绝缘垫片的形状也为中空半圆桶形，其所在整圆的内径和外径、弓高与聚焦电极的对应参数一致。
4.根据权利要求1所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述的绝缘垫片为塑料材质，长度不超过3mm。
5.根据权利要求1所述的提升紫外光电子谱分析仪中通道电子倍增器收集效率的装置，其特征在于：所述的通道电子倍增器的输入电压不高于200v。
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