【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体引线框架领域,具体地,涉及一种引线框架原材料表面处理方法。
技术介绍
1、半导体引线框架是一种实现集成电路芯片内部电路与外部电路连接、并形成电气回路的关键结构件,其表面镀层的均匀性、结合强度及平整度直接决定了芯片的封装可靠性和电性能。
2、现有工艺中,引线框架在电镀前,通常需要对其表面进行前处理,包括:除油脱脂、酸洗、水洗和烘干。该工艺中的引线框架原材料压延铜箔表面未经过特殊处理,而压延铜箔表面自带压延纹路且易氧化,导致压延铜箔基材对压膜的表面结合力差,进而影响后续电镀的银镀层表面均匀性和平整性。另一方面,现有前处理工艺中存在酸洗后的水洗效率不足的情况,残留化学物质(如酸液等)易污染后续电镀液,引发镀层局部异常沉积,加剧表面不均匀性,严重影响引线框架的可封装性能。
3、有研究者尝试改进这些技术的不足,专利cn101314832a通过先在基材表面预镀铜,再镀镍和铜,形成铜-镍-铜三层镀层,来改善引线框架的可封装性能,然而此方式未充分考虑预镀层的均匀性控制,不同金属的电镀效果都会受到电镀过程中的电
...【技术保护点】
1.一种引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,将所述预处理后的引线框架原材料置于预镀铜液中,其中,所述预镀铜液包括如下重量百分比的组分:硫酸铜10%~20%,硫酸5%~10%,氯离子0.01%~0.05%,光亮剂0.1%~0.5%,整平剂0.05%~0.1%,余量为水。
3.根据权利要求2所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,所述光亮剂为聚二硫二丙烷磺酸钠、亚乙基硫脲和糖精钠中的一种或多种;所述整平剂为聚丙烯酰胺、聚乙烯亚胺和聚乙二醇中的一种或多种。
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【技术特征摘要】
1.一种引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,将所述预处理后的引线框架原材料置于预镀铜液中,其中,所述预镀铜液包括如下重量百分比的组分:硫酸铜10%~20%,硫酸5%~10%,氯离子0.01%~0.05%,光亮剂0.1%~0.5%,整平剂0.05%~0.1%,余量为水。
3.根据权利要求2所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,所述光亮剂为聚二硫二丙烷磺酸钠、亚乙基硫脲和糖精钠中的一种或多种;所述整平剂为聚丙烯酰胺、聚乙烯亚胺和聚乙二醇中的一种或多种。
4.根据权利要求1所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,所述在所述预镀铜液中施加超声波场,其中:所施加的超声波场的频率为10khz~100khz。
5.根据权利要求1所述的引线框架原材料表面处理方法,其特征在于,所述在所述超声波场作用下于所述引线框架原材料表面预镀铜层,其中:温度为15℃~35℃,时间为1分钟~10分钟,电流密度为0.1a/dm2~4a/dm2。
【专利技术属性】
技术研发人员:王开旭,田书鼎,李金库,唐世豪,
申请(专利权)人:浙江宏丰半导体新材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
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