温度控制方法、装置、电子设备和存储介质制造方法及图纸

技术编号:45909735 阅读:14 留言:0更新日期:2025-07-25 17:42
本申请提出一种温度控制方法、装置、电子设备和存储介质,其中,方法包括:响应于电子设备的片上系统SOC处于低功耗模式,监测是否获取到设置在SOC外部的第一传感器的第一温度值,响应于获取到第一传感器的第一温度值,根据第一温度值,确定SOC的第一目标温度值,根据第一目标温度值,对SOC进行温度控制,在电子设备的片上系统SOC处于低功耗模式的情况下,通过SOC外部的传感器获取温度值对SOC进行温度控制,确保了SOC在低功耗模式下的稳定运行,降低了功耗。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及温度控制,尤其涉及一种温度控制方法、装置、电子设备和存储介质


技术介绍

1、电子设备在低温环境下,往往会面临一系列挑战,低温会影响片上系统soc的性能和稳定性,所以温度控制一直是soc
中一项非常重要的考虑因素。

2、在电子设备处于低功耗模式时,如果电子设备又处于低温环境,则需要检测电子设备的温度值,确定电子设备是否处于低温环境,以执行温度控制策略,而频繁的温度检测会导致soc无法进入低功耗模式,增加功耗,缩短续航时间。


技术实现思路

1、本申请旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。

2、为此,本申请提出一种温度控制方法、装置、电子设备和存储介质,在电子设备的片上系统soc处于低功耗模式的情况下,通过soc外部的传感器获取温度值对soc进行温度控制,确保了soc在低功耗模式下的稳定运行,降低了功耗。

3、本申请一方面实施例提出了一种温度控制方法,包括:

4、响应于电子设备的片上系统soc处于低功耗模式,监测是否获取到设置在所述soc本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种温度控制方法,其特征在于,所述方法,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述监测是否获取到设置在所述SOC外部的第一传感器的第一温度值,包括:

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一温度值,确定所述SOC的第一目标温度值,包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法,还包括:

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述监测是否获取到设置在所述SOC外部的第一传感器的第一温度值之后,还包括:

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一目标温度值,对所述SOC进行...

【技术特征摘要】

1.一种温度控制方法,其特征在于,所述方法,包括:

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述监测是否获取到设置在所述soc外部的第一传感器的第一温度值,包括:

3.如权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一温度值,确定所述soc的第一目标温度值,包括:

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述方法,还包括:

5.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述监测是否获取到设置在所述soc外部的第一传感器的第一温度值之后,还包括:

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述第一目标温度值,对所述soc进行温度控制,包括:

7.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐鹏
申请(专利权)人:北京玄戒技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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