一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法技术

本发明专利技术公开了一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，该制样方法包括以下步骤：步骤一、采用胶带将Bi系超导线外周侧的半面密封；步骤二、以半面密封后的Bi系超导线作为阳极与直流电源的正极相连，以石墨板作为阴极与直流电源的负极相连，然后将阴极和阳极伸入硝酸银溶液中通电，直至Bi系超导线表面露出芯丝，得到超导样品。本发明专利技术的制样方法通过将Bi系超导线外周侧的半面密封，利用电化学方法去除Bi系超导线未密封的半面包套，避免Bi系超导线内部的芯丝损伤，同时使超导样品保留半面的包套支撑，避免分析过程中外力造成芯丝出现裂纹，实现芯丝裂纹的原位观测，适用于高温超导线材技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于高温超导线材，尤其是涉及一种用于原位检测bi系超导线芯丝裂纹的制样方法。

技术介绍

1、高温超导线材凭借其零电阻特性、卓越的上临界场以及超高的超导转变温度，在超导电缆、超导限流器、超导磁体、超导变压器以及磁约束核聚变、强子对撞机等前沿领域展现出巨大潜力。

2、为了进一步提升超导线材的载流能力，实施精确的原位分析显得尤为关键。在bi系超导线材中，微小的裂纹及缺陷是当前限制其电流承载能力的首要因素。为了有效观测这些缺陷，现有技术通过将bi系超导线材表面的银包套完全去除，使陶瓷超导芯丝暴露以便直接观察。然而，由于陶瓷芯丝自身强度较低，去除银层后极易破损，导致难以准确观测到芯丝内部的裂纹缺陷；即便观测到裂纹，也难以判断其是芯丝中原本存在的，还是在样品制备过程中新产生的。

3、因此，为了准确观测超导芯丝中的裂纹并指导后续工艺优化，亟需探索一种创新的样品制备方法。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于克服上述现有技术中的不足，提供一种用于原位检测bi系超导线芯丝裂纹的制样方法。该制本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，该制样方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，步骤一中所述Bi系超导线密封前进行除油、清洗、脱水及烘干。

3.根据权利要求1所述的一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，步骤一中所述Bi系超导线的包套材质为银或银合金。

4.根据权利要求1所述的一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，步骤二中所述石墨板的长度大于Bi系超导线长度1cm～2cm，所述石墨板的宽度为Bi系超导线宽度的2倍～3倍...

【技术特征摘要】

1.一种用于原位检测bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，该制样方法包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的一种用于原位检测bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，步骤一中所述bi系超导线密封前进行除油、清洗、脱水及烘干。

3.根据权利要求1所述的一种用于原位检测bi系超导线芯丝裂纹的制样方法，其特征在于，步骤一中所述bi系超导线的包套材质为银或银合金。

4.根据权利要求1所述的一种用于原位检测bi系超导线芯丝...

【专利技术属性】
技术研发人员：郝清滨，徐晓燕，焦高峰，姚凯，李成山，张胜楠，李建峰，张平祥，
申请(专利权)人：西北有色金属研究院，
类型：发明
国别省市：