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一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法技术
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下载一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法的技术资料
文档序号:45870792
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本发明公开了一种用于原位检测Bi系超导线芯丝裂纹的制样方法,该制样方法包括以下步骤:步骤一、采用胶带将Bi系超导线外周侧的半面密封;步骤二、以半面密封后的Bi系超导线作为阳极与直流电源的正极相连,以石墨板作为阴极与直流电源的负极相连,然后将...
该专利属于西北有色金属研究院所有,仅供学习研究参考,未经过西北有色金属研究院授权不得商用。
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