【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于半导体领域,具体涉及一种具备混合金属阳极的n极性gan_algan异质结横向sbd及制备方法。
技术介绍
1、现有的整流二极管和功率器件大多数依赖于硅(si)基材料。然而,随着现代电子器件对功率密度、效率和小型化要求的不断提升,传统的si基材料已经逐渐接近其本征材料特性的极限,导致其在高效能、紧凑型和高功率密度需求下的局限性日益显现。相较于传统的si基材料,gan基半导体材料因其较大的禁带宽度、高电子饱和速度、优异的导热性能、卓越的耐高温高压特性以及出色的耐腐蚀能力,在大功率、高频和高温电子器件及光电器件的制造中展现出显著的优势。此外,gan的优异热导性、温度稳定性及抗腐蚀能力,使其在极端工况下的可靠性显著优于硅材料。因此,gan器件被广泛认为是高频、大功率以及高效能应用的理想选择,尤其适用于射频功率放大器、电动汽车电源、太阳能逆变器及5g通信基站等领域。
2、近年来,基于n极性gan/algan异质结的器件,凭借低接触电阻、强二维电子气(2deg)限域性、优良的栅控能力及高频响应等特点,得到了迅速发展,并在学
...【技术保护点】
1.一种具备混合金属阳极的N极性GaN_AlGaN异质结横向SBD,其特征在于,所述N极性GaN_AlGaN异质结横向SBD包括:
2.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的N极性GaN_AlGaN异质结横向SBD,其特征在于,所述非故意掺杂N极性GaN缓冲层的厚度为300nm~600nm。
3.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的N极性GaN_AlGaN异质结横向SBD,其特征在于,所述Si掺杂N极性AlGaN势垒层的厚度为20nm~50nm,Si掺杂浓度为5×1017cm-3~8×1018cm-3,Al组分范围为0.2~0.35。
...【技术特征摘要】
1.一种具备混合金属阳极的n极性gan_algan异质结横向sbd,其特征在于,所述n极性gan_algan异质结横向sbd包括:
2.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的n极性gan_algan异质结横向sbd,其特征在于,所述非故意掺杂n极性gan缓冲层的厚度为300nm~600nm。
3.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的n极性gan_algan异质结横向sbd,其特征在于,所述si掺杂n极性algan势垒层的厚度为20nm~50nm,si掺杂浓度为5×1017cm-3~8×1018cm-3,al组分范围为0.2~0.35。
4.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的n极性gan_algan异质结横向sbd,其特征在于,所述非故意掺杂n极性algan势垒层的厚度为10nm~30nm,al组分范围为0.2~0.35。
5.根据权利要求1所述的具备混合金属阳极的n极性gan_algan异...
【专利技术属性】
技术研发人员:侯斌,杨凌,朱宥军,常青原,武玫,张濛,芦浩,马晓华,郝跃,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。