一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法技术

技术编号:45745363 阅读:17 留言:0更新日期:2025-07-08 21:36
一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法,其特征在于:所述电子束预控壳体的抗拉强度σ<subgt;1</subgt;通过壳体基体材料抗拉强度σ<subgt;0</subgt;、缺陷长度l、壳体厚度L和电子束入射方向与壳体表面法向夹角θ四个参数来快速评估,电子束预控壳体的抗拉强度σ<subgt;1</subgt;为:本发明专利技术可定量快速评估电子束预控壳体的抗拉强度,同时准确度高,简单实用,具有重要的理论和经济价值,可用于指导电子束工艺设计,用于电子束预控壳体的检验和用于指导电子束预控壳体的材料组织设计,值得大规模推广使用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于材料性能评估,涉及一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法


技术介绍

1、电子束弹体预控技术是一种无需像机械刻槽一样削减弹体的新型预控破片成型技术,具有提高弹丸破片杀伤威力和保证结构强度的优点,在高膛压制导炮弹战斗部上具有极广泛的应用前景。

2、电子束预控后弹体会形成改性区网格,改性区底部会预留孔洞,从而导致整体强度下降,在高膛压制导炮弹发射安全上存在一定隐患。为消除隐患保障发射安全,需要确保预控弹体设计强度高于使用强度。

3、然而,目前电子束预控后弹体发生复杂的组织转变,组织分布非线性非均匀,力学性能转变规律不清晰,需要大量实验对每个电子束工艺下的预控壳体强度进行实验以确保预控弹体设计强度高于使用强度,但是存在研发效率低和研发费用高的问题。

4、因此,亟需研发出一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法以加速电子束预控壳体的研发效率和降低研发成本。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是提供一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法,可定量快速本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法,其特征在于:所述电子束预控壳体的抗拉强度σ1通过壳体基体材料抗拉强度σ0、缺陷长度l、壳体厚度L和电子束入射方向与壳体表面法向夹角θ四个参数来快速评估,电子束预控壳体的抗拉强度σ1为:

2.根据权利要求1所述的快速评估方法,其特征在于:所述缺陷长度l是指电子束实际加工后缺陷长度的平均值,缺陷长度l可通过对壳体的无损检测CT图像中的多个缺陷长度求取算术平均值得到。

3.根据权利要求2所述的快速评估方法,其特征在于:所述缺陷是电子束改性时因壳体材料没有及时回填而形成的孔洞缺陷,孔洞缺陷在壳体径向截面显示为长宽比大于1的长...

【技术特征摘要】

1.一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法,其特征在于:所述电子束预控壳体的抗拉强度σ1通过壳体基体材料抗拉强度σ0、缺陷长度l、壳体厚度l和电子束入射方向与壳体表面法向夹角θ四个参数来快速评估,电子束预控壳体的抗拉强度σ1为:

2.根据权利要求1所述的快速评估方法,其特征在于:所述缺陷长度l是指电子束实际加工后缺陷长度的平均值,缺陷长度l可通过对壳体的无损检测ct图像中的多个缺陷长度求取算术平均值得到。

3.根据权利要求2所述的快速评估方法,其特征在于:所述缺陷是电子束改性时因壳体材料没有及时回填而形成的孔洞缺陷,孔洞缺陷在壳体径向截面显示为长宽比大于1的长条形不规则形状,所述孔洞缺陷...

【专利技术属性】
技术研发人员:叶祥海陈炯王芳王雅仙石磊吕竹文李亚哲徐敬一王献操王英
申请(专利权)人:中国兵器科学研究院宁波分院
类型:发明
国别省市:

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