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一种电子束预控壳体的抗拉强度的快速评估方法，其特征在于：所述电子束预控壳体的抗拉强度σ<subgt;1</subgt;通过壳体基体材料抗拉强度σ<subgt;0</subgt;、缺陷长度l、壳体厚度L和电子束入射方向...
该专利属于中国兵器科学研究院宁波分院所有，仅供学习研究参考，未经过中国兵器科学研究院宁波分院授权不得商用。

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