【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体检测，具体是基于环境模拟的半导体性能检测系统。
技术介绍
1、半导体器件是现代电子技术的基石，其性能直接影响电子系统的稳定性与能效，而对半导体性能进行检测是保证半导体器件的质量处于达标的一种高效手段，随着半导体行业的快速发展，对半导体性能的检测要求越来越高。
2、传统的半导体性能检测方法主要依赖于实际环境下的测试，这不仅耗时耗力，而且难以全面覆盖各种环境因素对半导体性能的影响，此外，实际环境中的不可控因素较多，导致测试结果存在较大偏差，为了解决这些问题，基于环境模拟的半导体性能检测系统应运而生。
技术实现思路
1、为了解决上述问题，本专利技术的目的在于提供基于环境模拟的半导体性能检测系统。
2、本专利技术的目的可以通过以下技术方案实现：基于环境模拟的半导体性能检测系统，包括：
3、环境模拟模块，用于获取环境模拟信息，基于环境模拟信息配置进行半导体检测的仿真模拟环境，其中，仿真模拟环境包括若干仿真项，每个仿真项对应的仿真数据以及仿真监测...
【技术保护点】
1.基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述环境模拟模块包括：
3.根据权利要求2所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述参数遍历模块包括：遍历单元，用于完成半导体所处仿真模拟环境下的环境参数遍历，环境参数遍历设定有相应的遍历频率、遍历路径以及处于遍历路径下仿真模拟环境对应的若干待遍历项；
4.根据权利要求3所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述筛选单元包括：评分单元，用于将每个待遍历项与该待遍历项预设的标准参照...
【技术特征摘要】
1.基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述环境模拟模块包括：
3.根据权利要求2所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述参数遍历模块包括：遍历单元，用于完成半导体所处仿真模拟环境下的环境参数遍历，环境参数遍历设定有相应的遍历频率、遍历路径以及处于遍历路径下仿真模拟环境对应的若干待遍历项；
4.根据权利要求3所述的基于环境模拟的半导体性能检测系统，其特征在于，所述筛选单元包括：评分单元，用于将每个待遍历项与该待遍历项预设的标准参照项，通过词袋模型进行文本相似分析，得到相应待遍历项与其标准参照项之间的文本相似度，将文本相似度作为价值分数值；
5.根据权利要求4所述的基于环境模拟的半导体性能检...
【专利技术属性】
技术研发人员：顾超，
申请(专利权)人：标景精密科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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