清洁装置、处理装置以及分别用于清洁和处理罐状空心体的方法,尤其涉及用于半导体晶圆或光刻掩模的运输容器制造方法及图纸

技术编号:45643432 阅读:23 留言:0更新日期:2025-06-27 18:48
本发明专利技术涉及一种用于清洁罐状空心体(12)的清洁装置(44),其中清洁装置(44)包含至少一个界定清洁空间(50)的侧壁(46),该侧壁(46)形成至少一个装置开口(48),借助抓取和移动装置(18),由盖子(30)封闭的空心体(12)可通过该装置开口被引入清洁空间(50)中,以便清洁空心体外表面(32),并且清洁装置(44)包含至少一个供应装置(52),用于向由盖子(30)封闭的空心体(12)的空心体外表面(32)供应清洁流体,其中装置开口(48)的构造使得抓取和移动装置(18)至少在供应清洁流体时至少部分地伸入清洁空间(50)中,或与装置开口(48)齐平终止。此外,本发明专利技术涉及一种具有这种清洁装置(44)的处理装置(42),以及一种使用这种处理装置(42)清洁罐状空心体的方法。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍


技术实现思路

【技术保护点】

1.一种用于清洁罐状空心体(12)的清洁装置(44),尤其用于清洁半导体晶圆或光刻掩模的运输容器,其中:

2.根据权利要求1所述的清洁装置(44),

3.根据权利要求2所述的清洁装置(44),

4.根据权利要求2所述的清洁装置(44),

5.根据权利要求2至4中任一项所述的清洁装置(44),

6.根据权利要求3和5或4和5所述的清洁装置(44),

7.根据权利要求2至6中任一项所述的清洁装置(44),

8.根据前述权利要求中任一项所述的清洁装置(44),

9.根据权利要求8所述的清洁装置(44...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种用于清洁罐状空心体(12)的清洁装置(44),尤其用于清洁半导体晶圆或光刻掩模的运输容器,其中:

2.根据权利要求1所述的清洁装置(44),

3.根据权利要求2所述的清洁装置(44),

4.根据权利要求2所述的清洁装置(44),

5.根据权利要求2至4中任一项所述的清洁装置(44),

6.根据权利要求3和5或4和5所述的清洁装置(44),

7.根据权利要求2至6中任一项所述的清洁装置(44),

8.根据前述权利要求中任一项所述的清洁装置(44),

9.根据权利要求8所述的清洁装置(44),

10.根据前述权利要求中任一项所述的清洁装置(44),

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【专利技术属性】
技术研发人员:卢茨·雷布施托克埃尔韦·吉夏尔达兹
申请(专利权)人:GSEC德国半导体设备有限公司
类型:发明
国别省市:

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