一种用于全自动对焦的校准片及其对焦方法技术

技术编号:45548305 阅读:22 留言:0更新日期:2025-06-17 18:21
本发明专利技术公开了一种用于全自动对焦的校准片,包括遮光层、玻璃层和荧光层,遮光层、玻璃层和荧光层依次上下设置,遮光层上刻有校准图案,校准图案为去除部分遮光层所形成的线条图,校准图案包含位置校准图、畸形测量图和分辨率测量图;本发明专利技术还公开了一种用于全自动对焦的校准片的对焦方法,其步骤包括:一、位置校准,初步定位平台中心点位置,再次定位平台中心点位置,最终平台中心点位置校准;二、畸变校正;三、分辨率测量。本发明专利技术的有益效果是:校准片的结构简单,制造容易,生产成本低,集位置校准图、畸形测量图和分辨率测量图于一体,能够实现测量成像系统的相机的快速对焦,对焦速度快,对焦精度高;对焦方法的操作方式、流程简单。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及成像,具体为一种用于全自动对焦的校准片及其对焦方法


技术介绍

1、测量成像系统是一种用于物理学领域的分析仪器,用于对产品的成像分析,通过相机拍摄样品,实现高清晰成像分析。在测量成像系统使用前,需要对其校准平台的相机进行对焦,能够保证成像质量,保证测量效果,如在生物学、医学领域,有时需要对一些样品细胞进行成像检测,实现对细胞的检测分析。

2、而在对样品进行检测前,需要先对测量成像系统对焦,即对其校准平台的相机对焦,保证测量成像系统在对样品拍摄时的成像清晰,成像质量高。现有的测量成像系统对焦方式一般为相位检测对焦、对比度检测对焦或将两者结合的混合对焦模式。然而,相位检测对焦在暗环境下效果较差,无法评估对焦准确度和精确度;对比度检测对焦则对焦速度相对较慢,对焦时间长,不利于对样品的快速成像检测。同时,相位检测对焦和对比度检测对焦的成本均相对高昂。

3、虽然校准片是常用的对测量成像系统的相机镜头进行校准的工具,但在现有技术中,大多校准片功能单一,在校准不同的参数时,常常需要采用不同功能的校准片,因此可能需要频繁更换校准片,操本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:包括遮光层、玻璃层和荧光层,所述遮光层设置于玻璃层的上方,所述荧光层设置于玻璃层的下方,所述遮光层上刻有校准图案,所述校准图案为去除部分遮光层所形成的线条图,所述校准图案包含位置校准图、畸形测量图和分辨率测量图。

2.根据权利要求1所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:所述位置校准图为中间是米字型交叉线,四周360°是无数条等角度排列的直线组成的圆形图案。

3.根据权利要求1所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:所述畸形测量图为三个不同大小的田字型交叉线图组成的图案,且三个所述田字型交叉线图沿着同一直线从...

【技术特征摘要】

1.一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:包括遮光层、玻璃层和荧光层,所述遮光层设置于玻璃层的上方,所述荧光层设置于玻璃层的下方,所述遮光层上刻有校准图案,所述校准图案为去除部分遮光层所形成的线条图,所述校准图案包含位置校准图、畸形测量图和分辨率测量图。

2.根据权利要求1所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:所述位置校准图为中间是米字型交叉线,四周360°是无数条等角度排列的直线组成的圆形图案。

3.根据权利要求1所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:所述畸形测量图为三个不同大小的田字型交叉线图组成的图案,且三个所述田字型交叉线图沿着同一直线从小到大顺序排列。

4.根据权利要求1所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:所述分辨率测量图为由向内不断缩小的若干个横竖排列的线组成矩形图案,且每个所述线组的侧边均对应设有若干个数字。

5.根据权利要求4所述的一种用于全自动对焦的校准片,其特征在于:每个所述线组均包含六组横线和六组竖线,每...

【专利技术属性】
技术研发人员:惠开进仲苏明刘原
申请(专利权)人:苏州图墨医疗科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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