【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于微电子,具体涉及一种自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶及其制备方法。
技术介绍
1、金刚石作为一种超宽禁带半导体,具有高禁带宽度(5.45ev)、高电子饱和漂移速度(2.5×107cm/s)、高空穴迁移率(4500cm2/(v·s))、高电子迁移率(3800cm2/(v·s))、高击穿电场(>10mv·cm-1)、高热导率(2200w/(m·k))、低热膨胀系数、高机械强度、低介电常数(5.7)和较好的抗辐射性能等优于其他半导体材料的出色特性。金刚石由于优异的性能,在高频通信、功率放大器、雷达系统、耐辐射器件、芯片散热等领域具有广泛的应用前景,被誉为“终极半导体材料”。
2、金刚石在器件领域的应用非常广泛,金刚石二极管以及氢终端金刚石mosfet器件在高温高压领域具有明显的优势,但是金刚石的n型掺杂目前仍然是难以解决的问题,已经有研究表明(110)晶向是金刚石n型磷掺杂合适的取向,在相同的条件下,(110)晶向的掺杂效率比(100)晶向高3个数量级。同时,在氢终端金刚石器件中,(110)晶向的氢终端金刚
...【技术保护点】
1.一种自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,所述金刚石衬底具有(100)晶向的侧表面和(110)晶向的侧表面。
3.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,对每组(110)单晶外延结构中的N个(110)单晶外延结构进行组内第一晶向拼接,包括:
4.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,当所述为(100)晶向
...【技术特征摘要】
1.一种自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,所述金刚石衬底具有(100)晶向的侧表面和(110)晶向的侧表面。
3.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,对每组(110)单晶外延结构中的n个(110)单晶外延结构进行组内第一晶向拼接,包括:
4.根据权利要求1所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,当所述为(100)晶向,所述第二晶向为(111)晶向时,在所述第一晶向的生长条件下生长金刚石,包括:
5.根据权利要求4所述的自选择侧向生长的大尺寸金刚石(110)单晶的制备方法,其特征在于,(100)...
【专利技术属性】
技术研发人员:任泽阳,王超玥,张金风,付裕,苏凯,李俊鹏,陈军飞,郝跃,张进成,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。