嵌入式设备的运行状态分析方法和装置制造方法及图纸

技术编号:45089840 阅读:42 留言:0更新日期:2025-04-25 18:25
本公开涉及一种嵌入式设备的运行状态分析方法和装置,该方法包括:从嵌入式设备获取待分析数据;待分析数据是嵌入式设备通过其上部署的数据获取工具根据状态数据计算获得的;状态数据是通过数据获取工具对处于运行状态的嵌入式设备收集的运行数据;通过本地部署的数据分析工具分析待分析数据,获得数据分析结果,并输出;其中,数据分析结果为嵌入式设备的运行状态异常或运行状态正常;若是运行状态异常,还输出推荐的用于进一步排查分析的工具。本公开能够降低对嵌入式设备的运行状态进行分析的成本,并提高对嵌入式设备的运行状态进行分析的效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开实施例涉及一种嵌入式设备的运行状态分析方法和装置


技术介绍

1、以arm为硬件核心、以linux为操作系统的嵌入式设备作为专用微小型计算机越来越广泛的应用在各行各业,智能化程度也越来越高。而嵌入式设备所拥有的核心硬件资源(cpu/ddr)通常是固定不可扩展的;智能化的前提是业务的丰富和复杂性提高;在功能满足产品需求的情况下稳定性是不可忽视的一大问题。

2、在稳定性排查过程中,通常是通过工作人员人工处理;由于影响稳定性的因素多样且复杂,需要有经验的工作人员来进行排查,导致对嵌入式设备的运行状态进行分析的成本高、效率低。


技术实现思路

1、有鉴于此,本公开提供一种嵌入式设备的运行状态分析方法和装置,能够降低对嵌入式设备的运行状态进行分析的成本,并提高对嵌入式设备的运行状态进行分析的效率。

2、本公开的技术方案是这样实现的:

3、在一个实施例中,提供一种嵌入式设备的运行状态分析方法,所述方法包括:

4、从嵌入式设备获取待分析数据;所述待分析数据是所述嵌入式设备本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种嵌入式设备的运行状态分析方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待分析数据存储在所述嵌入式设备的flash中;

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述待分析数据包括总CPU使用率和子CPU使用率时,所述通过本地部署的数据分析工具分析所述待分析数据,获得数据分析结果,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述待分析数据包括总内存占有率和子内存占有率时,所述通过本地部署的数据分析工具分析所述待分析数据,获得数据分析结果,包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所...

【技术特征摘要】

1.一种嵌入式设备的运行状态分析方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述待分析数据存储在所述嵌入式设备的flash中;

3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述待分析数据包括总cpu使用率和子cpu使用率时,所述通过本地部署的数据分析工具分析所述待分析数据,获得数据分析结果,包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,当所述待分析数据包括总内存占有率和子内存占有率时,所述通过本地部署的数据分析工具分析所述待分析数据,获得数据分析结果,包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:李勇艾国杨作兴
申请(专利权)人:深圳比特微电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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