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本公开涉及一种嵌入式设备的运行状态分析方法和装置，该方法包括：从嵌入式设备获取待分析数据；待分析数据是嵌入式设备通过其上部署的数据获取工具根据状态数据计算获得的；状态数据是通过数据获取工具对处于运行状态的嵌入式设备收集的运行数据；通过本地部...
该专利属于深圳比特微电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳比特微电子科技有限公司授权不得商用。

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