一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法技术

本发明专利技术公开了一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，属于氢氧化铝检测技术领域。本发明专利技术包括如下步骤：S1、制备校准用氢氧化铝样品；S2、初级校准：使用乳胶球标准粒子按颗粒计数分析仪的操作规程对小孔管进行初级校准，得到初级校准KD值；S3、修正标准粒子：以初级校准KD值作为参数，使用颗粒计数分析仪测定氢氧化铝标准样品的中位粒径D50，得到氢氧化铝标准样品的D50测定值，通过计算得到修正标准粒子的参考直径；S4、二次校准：使用修正标准粒子的参考直径再次校准小孔管，得到测定用孔管KD值。本发明专利技术能够解决使用实芯球形乳胶粒子校准容易使氢氧化铝粒度分析结果产生较大的偏差的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及氢氧化铝检测，具体涉及一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法。

技术介绍

1、氧化铝生产控制及产品销售均需掌握氢氧化铝的中位粒径d50数值，以调控生产及产品发运，其中外售氢氧化铝要求能快速、准确地发出分析报告。测定d50的关键在于测定物料的粒度分布，目前主要包括以下5种粒度分布的测定方法：筛分法、沉降法、电阻法、激光法以及电镜法。其中，沉降法存在操作繁琐、耗时长、计算复杂等问题，激光法存在结果受分布模型影响较大、分辨力稍低等问题，电镜法存在代表性差、测量易受人为因素影响、重现性稍差等问题，因此目前较常用的方法为筛分法和电阻法。

2、筛分法存在样品制备时间长、每一粒级均需相应尺寸的分析筛进行筛分、筛网更换频繁、操作环境差等缺陷。通过筛分后称量各筛层上的样品重量得出粒级百分比，只能测定45μm、90μm、150μm等几个粒级的百分比，无法得出d50准确数值；其次筛分法需经历样品烘干、制备、振筛、数据处理等流程，耗时较长。显然筛分法无法完全满足快速、准确测定氢氧化铝d50的需求。

3、在电阻法中，通常采用颗粒本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在于，步骤S1中，所述氢氧化铝标准样品的制备方法包括如下步骤：取氢氧化铝，使用80μm、90μm、100μm三层筛组合进行筛分，筛层顺序由上到下为100-90-80，筛分后取同等重量的90μm筛的筛上、筛下物混匀，得到中位粒径D50为90μm的氢氧化铝标准样品；即所得氢氧化铝标准样品的D50真实值为90μm。

3.如权利要求1所述的一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在于，包括如下步骤：

2.如权利要求1所述的一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在于，步骤s1中，所述氢氧化铝标准样品的制备方法包括如下步骤：取氢氧化铝，使用80μm、90μm、100μm三层筛组合进行筛分，筛层顺序由上到下为100-90-80，筛分后取同等重量的90μm筛的筛上、筛下物混匀，得到中位粒径d50为90μm的氢氧化铝标准样品；即所得氢氧化铝标准样品的d50真实值为90μm。

3.如权利要求1所述的一种颗粒计数分析仪测定氢氧化铝中位粒径的小孔管校准方法，其特征在于：所述小孔管为200-400μm孔管。

4.如权利要求1所述的一种颗粒计数...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒙永，冯旭波，王能，麦勇军，朱晓钟，唐振华，郑鑫，宋大伟，程尤远，
申请(专利权)人：广西广投临港工业有限公司，
类型：发明
国别省市：