【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及反射率光谱测量，尤其涉及一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件及测试方法。
技术介绍
1、红外光学材料是专门用于处理或传输红外光的材料，这类材料具有优异的光学性能和机械性能，常用于红外激光器、红外传感器和其他光学设备。
2、红外光学材料的红外光学性能对于促进红外光学材料的应用发展具有重要作用。由于傅里叶变换红外光谱仪(ftir)可以进行微区红外分析、失效故障分析，材料红外光学性能分析，且具有操作简便，光路简单，分辨率高，扫描速度快，灵敏度高，可以测定反射光谱，样品制备简单且无损测试等优点，成为目前分析红外光学材料的红外光学性能的主要技术手段。
3、但是，目前ftir通常只能在常温下测试薄膜的红外反射率，并且测试区域通常较大。虽然，现有技术中也有ftir用的变温附件，但是目前ftir中的变温附件多针对于atr或其他成分分析模式，在这些模式下不能对材料的反射率进行表征。然而，现有的红外光学材料的红外反射特性通常随着温度的变化而改变，导致难以通过现有技术中的变温附件实现对变温红外反射特性的分析，也无法满足...
【技术保护点】
1.一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，包括绝缘层、加热层、隔热层和金属夹具；
2.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述变温附件的总体高度为15mm±0.2mm，宽度为40mm±0.2mm。
3.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述绝缘层的材质为聚四氟乙烯。
4.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述绝缘层的厚度为10mm±0.2mm。
5.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，...
【技术特征摘要】
1.一种薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，包括绝缘层、加热层、隔热层和金属夹具；
2.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述变温附件的总体高度为15mm±0.2mm，宽度为40mm±0.2mm。
3.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述绝缘层的材质为聚四氟乙烯。
4.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述绝缘层的厚度为10mm±0.2mm。
5.如权利要求1所述的薄膜红外变温反射率测试用的变温附件，其特征在于，所述加...
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