【技术实现步骤摘要】
本申请涉及材料表征,尤其涉及一种应用于fib制样和apt测试的夹具。
技术介绍
1、fib制样指的是采用聚焦离子束技术(fib)制备样品,其常用于制备电子显微镜观察或其他精密分析的样品。apt测试指的是三维原子探针测试,够在原子尺度上分析样品的成分。
2、使用fib技术制备apt测试的样品时,样品需要制备在离子束系统的工作台上,制备完成后需要将载网和样品一起取下放置在tem(透射电子显微镜)下进行表征,其中,将样品转移到tem进行表征过程中样品容易发生掉落,在表征结束后还需要将其安装在apt测试设备上进行测试,因此,设计一款稳定性好且可通用于fib制样以及apt测试的夹具是本领域急需解决的问题。
技术实现思路
1、本申请实施例提供一种应用于fib制样和apt测试的夹具,能够适用多种设备,且稳定性好。
2、本申请提供一种应用于fib制样和apt测试的夹具,包括安装块、载网、压紧弹片以及连接杆;安装块安装于外部设备上;载网设置在安装块上,样品胚料设置在载网上;压紧弹片的
...【技术保护点】
1.一种应用于FIB制样和APT测试的夹具,其特征在于,包括安装块(1)、载网(2)、压紧弹片(3)以及连接杆(4);
2.根据权利要求1所述的应用于FIB制样和APT测试的夹具,其特征在于,所述安装块(1)上设置有安装槽(1a),至少部分的载网(2)设置于安装槽(1a)内。
3.根据权利要求2所述的应用于FIB制样和APT测试的夹具,其特征在于,所述载网(2)的一端设置有多个安装齿(21),安装齿(21)用于与样品胚料连接,所述安装块(1)的一侧设置有水平内凹的第一避让槽(1b),安装齿(21)在高度方向的投影落入第一避让槽(1b)内。
>4.根据权利...
【技术特征摘要】
1.一种应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,包括安装块(1)、载网(2)、压紧弹片(3)以及连接杆(4);
2.根据权利要求1所述的应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,所述安装块(1)上设置有安装槽(1a),至少部分的载网(2)设置于安装槽(1a)内。
3.根据权利要求2所述的应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,所述载网(2)的一端设置有多个安装齿(21),安装齿(21)用于与样品胚料连接,所述安装块(1)的一侧设置有水平内凹的第一避让槽(1b),安装齿(21)在高度方向的投影落入第一避让槽(1b)内。
4.根据权利要求2或3所述的应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,所述安装槽(1a)的内底面设置有竖向贯通安装块(1)的避让孔(1c),压紧弹片(3)在高度方向的至少部分投影与避让孔(1c)重叠。
5.根据权利要求4所述的应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,所述安装块(1)的底部设置有第二避让槽(1d),第二避让槽(1d)的内顶面配置为避让孔(1c)的下开口端面。
6.根据权利要求1所述的应用于fib制样和apt测试的夹具,其特征在于,所述连...
【专利技术属性】
技术研发人员:李轶楠,喻旺珍,
申请(专利权)人:长沙凯普乐科技有限责任公司,
类型:新型
国别省市:
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