射频芯片测试工位校准方案制造技术

本发明专利技术公开了一种射频芯片测试工位校准方案，校准方案为：1）先取2颗待测试的芯片，即一号芯片和二号芯片，将两颗芯片分别依次置入测试夹具Socket中2个测试工位Site一号工位和二号工位中；2）对一号芯片进行检测时，先将一号芯片置于一号工位中，之后启动测试夹具Socket，测试夹具Socket会对一号芯片循环测试至少10次。本发明专利技术克服了现有技术中存在的传统的射频芯片校准系统在对芯片进行校准过程中易出现较大数据差异的问题。本发明专利技术具有测试结果准确可靠和测试过程简单易操作等优点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种芯片测试，更具体地说，涉及一种射频芯片测试工位校准方案。

技术介绍

1、目前，中国专利网上公开了一种校准波形生成器及射频芯片校准系统、方法、装置、介质，涉及射频收发芯片
，公开号cn118539994a，用于实现零中频射频收发芯片的校准。针对传统校准方案i/q失配校准速度慢的问题，提供一种校准波形生成器，可以实现收发芯片的dcos校准和i/q失配校准。通过同时生成多个等幅度的单音实现多音扫频，可以大大缩短i/q失配镜像校准所需的校准时间，从而加快射频收发芯片的开机速度，并方便在不影响业务的同时完成后台背景校准，提高宽带零中频收发机的性能。

2、上述专利中的一种校准波形生成器及射频芯片校准系统、方法、装置、介质，虽然具有校准时间短和开机速度等优点，但是该射频芯片测试方式采用单一设备进行检测，而射频芯片其主要性能指标容易受到测试硬件、连接状态、空间环境等因素的影响，若只采用单一设备进行校准，射频芯片测试值的波动将难以控制，量产测试的良率将无法得到保证，且上述的校准方案容易造成site to site数据差异大，导致个别sit本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的校准方案为：

2.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的E1为一号芯片出厂时的标准数值，E2为二号芯片出厂时的标准数值。

3.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的CP的公式为Cp=（USL-LSL）/6sigma，所述的sigma为方差值，所述的USL为数组中的最大值，所述的LSL为数组中的最小值)。

4.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的CPK的公式为CPK=min[(USL-μ)，(μ-LSL)]/3sigma...

【技术特征摘要】

1.一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的校准方案为：

2.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的e1为一号芯片出厂时的标准数值，e2为二号芯片出厂时的标准数值。

3.根据权利要求1所述的一种射频芯片测试工位校准方案，其特征是，所述的cp的公式为cp=（usl-lsl）/6s...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱渊，刘寅，李步民，
申请(专利权)人：芯云纵横半导体上海有限公司，
类型：发明
国别省市：