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本发明公开了一种射频芯片测试工位校准方案，校准方案为：1）先取2颗待测试的芯片，即一号芯片和二号芯片，将两颗芯片分别依次置入测试夹具Socket中2个测试工位Site一号工位和二号工位中；2）对一号芯片进行检测时，先将一号芯片置于一号工位中...
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