电芯检测方法、封装结构、电芯、电池以及用电设备技术

技术编号:44911122 阅读:41 留言:0更新日期:2025-04-08 18:55
本申请提供一种电芯检测方法、封装结构、电芯、电池以及用电设备,涉及电池技术领域。电芯检测方法应用于电芯,电芯检测方法包括:在电芯的封装膜上设置电致发光膜,并将电致发光膜与电芯上引出的第一极耳通过导电件电连接;检测电致发光膜是否发光,用以确定电芯上引出的第二极耳与封装膜的电连接状态,从而确定电芯是否短路。本申请的电芯检测方法可以解决电芯下线时无法准确识别电芯是否发生短路,导致不良产品流出的问题。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及电池,具体涉及一种电芯检测方法、封装结构、电芯、电池以及用电设备


技术介绍

1、极耳是从电芯中将正负极引出来的金属导电体,是电芯在进行充放电时的接触点。当极耳发生触壳现象时,即作为金属导电体的极耳与电芯外壳之间发生电性导通时,会导致电芯短路,使得电芯内部产生大量电流,引起电芯发热,甚至存在爆炸风险。

2、因此,需要检测电芯是否存在短路现象。例如,通过边电阻测试的方式进行检测。相关技术中,通常是采用一根导线将其中一个极耳与铝塑膜连接起来,通过外部电源施加电压,以测试电芯的阻值。然而,当极耳触壳面积较小时对电芯阻值的影响较小,容易导致无法识别出来,存在流出风险。


技术实现思路

1、本申请提供一种电芯检测方法、封装结构、电芯、电池以及用电设备,可以解决电芯下线时无法准确识别电芯是否发生短路,导致不良产品流出的问题。

2、第一方面,本申请提供一种电芯检测方法,应用于电芯,所述方法包括:

3、在电芯的封装膜上设置电致发光膜,并将所述电致发光膜与所述电芯上引出的第一极耳通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电芯检测方法,应用于电芯,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述电致发光膜是否发光,用以确定所述电芯上引出的第二极耳与所述封装膜的电连接状态,从而确定所述电芯是否短路包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述检测所述电致发光膜是否发光,用以确定所述电芯上引出的第二极耳与所述封装膜的电连接状态之后,还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电致发光膜的数量为多个,多个所述电致发光膜具有相同的电压阈值和不同的电流阈值;

5.一种封装结构(110),用于封装正极片、隔...

【技术特征摘要】

1.一种电芯检测方法,应用于电芯,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测所述电致发光膜是否发光,用以确定所述电芯上引出的第二极耳与所述封装膜的电连接状态,从而确定所述电芯是否短路包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,在所述检测所述电致发光膜是否发光,用以确定所述电芯上引出的第二极耳与所述封装膜的电连接状态之后,还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述电致发光膜的数量为多个,多个所述电致发光膜具有相同的电压阈值和不同的电流阈值;

5.一种封装结构(110),用于封装正极片、隔膜和负极片,所述正极片和所述负极片的一者可引出第一极耳(120),所述正极片和所述负极片的另一者可引出第二极耳(130),其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的封装结构(110),其特征在于,所述封装膜(111)包括阻透层,所述阻透层与所述第一极耳(120)通过所述导电件(140)电连接,所述电致发光膜...

【专利技术属性】
技术研发人员:王瑞李海啸水锋娄爽李瀚文
申请(专利权)人:比亚迪股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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