一种铜合金的颗粒度检测方法技术

技术编号:44874371 阅读:35 留言:0更新日期:2025-04-08 00:14
本发明专利技术涉及一种铜合金的颗粒度检测方法,所述检测方法包括如下步骤:(1)将待检测铜合金靶材加工成铜丝;(2)依次对步骤(1)所得铜丝进行酸洗、水洗以及醇洗,得到醇洗样品;(3)使用硝酸溶液以及超纯水溶解步骤(2)所得醇洗样品,得到待测制样;(4)使用KS‑42C液体粒子计数器对步骤(3)所得待测制样进行颗粒度检测。本发明专利技术通过KS‑42C的使用,能够检测粒径0.5‑20μm范围内的颗粒数量,精度更高,且无需对待测制样进行稀释即可进行检测,减弱了本底的影响,使检测结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于检测,涉及一种颗粒度的检测方法,尤其涉及一种铜合金的颗粒度检测方法


技术介绍

1、随着芯片的广泛应用,芯片市场需求数量增长,对于铝、钛、钽、铜这四种业界主流的薄膜金属材料的需求也有一定的增长;高纯铜及铜合金靶材作为溅射靶材市场的主力产品,实现纯度≥99.99wt%的高纯铜合金的粒径分布及大小检测,具有重要意义。

2、液体颗粒计数器(lpc)是检测液体中悬浮颗粒数以及粒径分布的一种设备,可用于微粒
的质量控制,检测范围广,通过可互换的传感器,能够实现1.3-20μm的颗粒粒径的样本检测;同时,lpc操作简单,取样方便,广泛应用于医药级科研测试以及金属中不溶物的检测。

3、对不溶物进行检测时,常用的lpc为贝克曼hiac 9703+液体颗粒计数器,但hiac9703+在生物医药领域应用广泛,在半导体金属检测领域的应用较少;此外,其检测范围为1.3-20μm,检测精度较低,无法满足铜合金原材料的颗粒验证;而且,hiac 9703+进行检测时,需要将样品稀释至1000倍,这造成了本底影响高,数据重现性差;此外,hiac本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种铜合金的颗粒度检测方法,其特征在于,所述颗粒度检测方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(1)所述铜丝的长度为0.8-1.2cm。

3.根据权利要求1或2所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述酸洗采用30-50wt%的硝酸;

4.根据权利要求1-3任一项所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述水洗的次数为3次以上。

5.根据权利要求1-4任一项所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述醇洗为使用无水乙醇进行超声波清洗;

6.根据权利要求5所述的颗粒度检测方法,...

【技术特征摘要】

1.一种铜合金的颗粒度检测方法,其特征在于,所述颗粒度检测方法包括如下步骤:

2.根据权利要求1所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(1)所述铜丝的长度为0.8-1.2cm。

3.根据权利要求1或2所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述酸洗采用30-50wt%的硝酸;

4.根据权利要求1-3任一项所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述水洗的次数为3次以上。

5.根据权利要求1-4任一项所述的颗粒度检测方法,其特征在于,步骤(2)所述醇洗为使用无水乙醇进行超声波清洗;

6.根据权...

【专利技术属性】
技术研发人员:姚力军张如怡王学泽
申请(专利权)人:宁波江丰电子材料股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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