半导体装置制造方法及图纸

技术编号:44745774 阅读:28 留言:0更新日期:2025-03-26 12:35
课题在于,提高半导体装置的耐久性。解决手段在于,半导体装置(100)具备:半导体元件(2),载放在绝缘基板(1)上,在表面(2a)具有电极(21);键合引线(3),与电极(21)接合,对半导体元件(2)进行电连接;以及第1树脂材料(4),覆盖电极(21)与键合引线(3)的接合部(31)。接合部(31)包括电极(21)与键合引线(3)未被接合的非接合区域(32)。

【技术实现步骤摘要】

实施方式涉及半导体装置


技术介绍

1、正在开发一种半导体装置,具有:绝缘基板,具有导体图案;半导体元件,具有设置有电极的表面以及与导体图案接合的背面;以及键合引线,与电极接合。在这样的半导体装置中,如果使用次数叠加,则在电极与键合引线的接合部发生断裂等,从耐久性的观点出发存在改进的余地。

2、现有技术文献:

3、专利文献:

4、专利文献1:日本特开平8-115941号公报


技术实现思路

1、专利技术所要解决的课题:

2、实施方式的目的在于提高半导体装置的耐久性。

3、用于解决课题的手段:

4、实施方式所涉及的半导体装置具备:半导体元件,载放在绝缘基板上,在表面具有电极;键合引线,与电极接合,将半导体元件电连接;以及第1树脂材料,覆盖电极与键合引线的接合部。接合部包括电极与键合引线未被接合的非接合区域。

【技术保护点】

1.一种半导体装置,其中,具备:

2.如权利要求1所述的半导体装置,其中,还具备:

3.如权利要求1所述的半导体装置,其中,

4.如权利要求1~3中任1项所述的半导体装置,其中,

5.如权利要求4所述的半导体装置,其中,

6.如权利要求4所述的半导体装置,其中,

7.如权利要求1~3中任1项所述的半导体装置,

【技术特征摘要】

1.一种半导体装置,其中,具备:

2.如权利要求1所述的半导体装置,其中,还具备:

3.如权利要求1所述的半导体装置,其中,

4.如权利要求1~3中任1项所...

【专利技术属性】
技术研发人员:南尚吾松尾圭一郎山本哲也
申请(专利权)人:株式会社东芝
类型:发明
国别省市:

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