一种基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法技术

本发明专利技术公开了一种基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法。该方法包括：使用二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微镜获取原始图像，计算获得振镜法向量，计算获得入射光单位向量，计算获得反射光单位向量，计算投射到被扫描端面的坐标，坐标与像素联系与图像校正。本发明专利技术方法不仅能够去除MEMS振镜引入的畸变，还可以在未知被扫描端面姿态情况下校正其引入的畸变，进而获得无畸变的共聚焦图像。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于显微镜，特别是一种基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法。

技术介绍

1、激光扫描共聚焦显微镜是目前最常用的荧光成像工具，通过共轭的针孔对离焦光的滤除，可以有效增强信号质量，且使共聚焦显微镜具备了光学层切功能。共聚焦显微成像是一种点扫描成像模式，激光扫描实现方式目前普遍基于振镜组(检流计振镜-共振振镜)（如wang, jiafu, et al. "a confocal endoscope for cellular imaging."engineering 1.3 (2015): 351-360；xu, baoteng, et al. "real-time correction oftransverse dislocation and distortion in probe-based confocal laserendomicroscopy imaging." optics communications 522 (2022): 128653）。但是使用振镜组具有体积大、装调难度大的缺点，而使用mems振镜可以有效克服这些缺点。目本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤2中所述被扫描样品平面中心与所述MEMS扫描振镜中心的连线应垂直于γx=γy=0时的被扫描样品平面。

3.根据权利要求1所述的基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤3所述基于步骤2确定的参数，利用畸变校正方法对图像进行畸变校正，具体包括：

4.根据权利要求3所述的基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤3-1中...

【技术特征摘要】

1.一种基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤2中所述被扫描样品平面中心与所述mems扫描振镜中心的连线应垂直于γx=γy=0时的被扫描样品平面。

3.根据权利要求1所述的基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤3所述基于步骤2确定的参数，利用畸变校正方法对图像进行畸变校正，具体包括：

4.根据权利要求3所述的基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤3-1中mems扫描振镜的单位法向量为：

5.根据权利要求4所述的基于二轴mems扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法，其特征在于，步骤3-2中设激光入射位置为mems扫描振镜的中心并在此处发生反射，由此通过空间几何推导得到入射光单位向量、反射光单位向量分...

【专利技术属性】
技术研发人员：侯冠廷，杨西斌，郑喜灿，丁小勇，陈星屹，徐宝腾，刘家林，周伟，瞿靖芮，孙志艳，崔素娟，赵磊，
申请(专利权)人：中国科学院苏州生物医学工程技术研究所，
类型：发明
国别省市：