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本发明公开了一种基于二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微图像畸变校正方法。该方法包括：使用二轴MEMS扫描振镜的共聚焦显微镜获取原始图像，计算获得振镜法向量，计算获得入射光单位向量，计算获得反射光单位向量，计算投射到被扫描端面的坐标，坐标与像素...
该专利属于中国科学院苏州生物医学工程技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院苏州生物医学工程技术研究所授权不得商用。

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