【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及集成电路测试领域，具体涉及一种集成电路测试数据管理方法。
技术介绍
1、随着集成电路技术的飞速发展，集成电路的测试数据管理变得日益复杂和重要。传统的测试数据管理方法往往依赖于简单的数据库存储，这在面对大规模、多样化的测试任务时显得力不从心。在测试机端，测试机采集测试数据并进行临时存储，之后将临时存储的测试数据传输至中心服务器。但测试机一般将测试数据进行统一存储，随着数据量增大，这种方式占用测试机内存，影响测试机运行效率，且容易引起数据传输错误，影响后续数据分析结果。
技术实现思路
1、为解决上述问题，本专利技术提供一种集成电路测试数据管理方法，根据不同的测试任务进行测试数据的分散存储，及时清理已传输数据，减少测试机内存占用，保证测试机运行效率，且每次传输部分数据，减少数据传输大小，保证数据传输的准确性，进而保证后续数据分析结果的准确性。
2、第一方面，本专利技术的技术方案提供一种集成电路测试数据管理方法，应用于测试机，包括以下步骤：
3、接收测试任务，...
【技术保护点】
1.一种集成电路测试数据管理方法，其特征在于，应用于测试机，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的集成电路测试数据管理方法，其特征在于，对测试任务进行关键词提取，具体包括：
3.根据权利要求2所述的集成电路测试数据管理方法，其特征在于，根据所提取关键词构建至少一个测试数据存储文件，具体包括：
4.根据权利要求3所述的集成电路测试数据管理方法，其特征在于，创建N个测试数据存储文件之后，还包括以下步骤：
5.根据权利要求4所述的集成电路测试数据管理方法，其特征在于，创建N个测试数据存储文件之后，还包括以下步骤：
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