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一种电离室的控制方法及装置制造方法及图纸

技术编号:44595823 阅读:16 留言:0更新日期:2025-03-14 12:52
本申请公开了一种电离室的控制方法及装置,当与测量设备处于连接状态时,对测量设备的定位距离进行校准,对校准后的测量设备中的电离室进行漏电测量,以确保电离室符合测量标准,在电离室符合测量标准的条件下,通过自动测量程序控制电离室进行粒子源水吸收剂量的自动化测量。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及外推电离室的控制处理,更具体地说,涉及一种电离室的控制方法及装置


技术介绍

1、为了实现粒子源水吸收剂量的绝对测量,需要用到外推电离室,通过外推电离室更换不同的极板间距来实现最终的粒子源水吸收剂量的绝对测量的目的。

2、但是现有的外推电离室一般是传统的小体积外推电离室,传统的小体积外推电离室是手动调节的。通过手动调节外推电离室来进行粒子源水吸收剂量的绝对测量,存在如下缺点:

3、一方面由于测量人员频繁进出辐射场环境,会影响引起测量环境的变化,且测量人员存在辐射的风险;另一方面手工调节极板间距的精确度也由于操作人员的自身状态以及各操作人员之间的技术水平差异导致无法保持一致的稳定性,从而导致粒子源水吸收剂量的绝对测量的准确性低和测量效率低。

4、因此,如何避免在调节外推电离室来进行粒子源水吸收剂量的绝对测量的过程中测量人员被辐射的危险,以及提高粒子源水吸收剂量的绝对测量的准确性和测量效率,是本申请亟需解决的问题。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请公开了一种电离室的本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电离室的控制方法,其特征在于,所述方法应用于控制系统,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当与测量设备处于连接状态时,对测量设备的定位距离进行校准,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对校准后的测量设备中的电离室进行漏电测量,以确保电离室符合测量标准,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在电离室符合测量标准的条件下,通过自动测量程序控制电离室进行粒子源水吸收剂量的自动化测量,包括:

6.一种电离室的控制装置,...

【技术特征摘要】

1.一种电离室的控制方法,其特征在于,所述方法应用于控制系统,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述当与测量设备处于连接状态时,对测量设备的定位距离进行校准,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述对校准后的测量设备中的电离室进行漏电测量,以确保电离室符合测量标准,包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述在电离室符合测量...

【专利技术属性】
技术研发人员:杭仲斌何作祥
申请(专利权)人:清华大学
类型:发明
国别省市:

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