【技术实现步骤摘要】
本申请涉及元器件检测分析领域，尤其涉及一种电阻器检测方法及相关设备。
技术介绍
1、电阻器作为电子元器件的基础组成部分，其可靠性直接影响着电子产品的稳定性和寿命。尽管现代电阻器生产工艺日趋成熟，并经过严格的出厂筛选，但在实际应用中仍存在阻值异常增大的问题，这是由于端电极不连续，局部陶瓷基体外露。
2、电阻器端电极结构包括钯银电极层、镍阻挡层、锡铅可焊层。镍阻挡层起隔绝和阻挡作用，防止钯银与锡铅反应。然而，在镍阻挡层存在损伤或缺陷的情况下，高温焊接时钯银与锡铅会发生反应，形成共熔物，造成钯银电极层消失，陶瓷基片外露，端电极焊接异常。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请的目的在于提出一种电阻器检测方法及相关设备，以解决或部分解决上述问题。
2、作为本申请的一个方面，提供了一种电阻器检测方法，包括：
3、获取多组电阻器；所述电阻器包括基板、第一电极层以及阻挡层；所述多组电阻器中的每组电阻器的数量相同；
4、将所述多组电阻器分为两类，得到第一类电阻器...
【技术保护点】
1.一种电阻器检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述刺穿所述第一类电阻器的阻挡层，得到目标类电阻器，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，所述目标类电阻器和所述第二类电阻器包含多个对照子组，
4.根据权利要求3所述的方法，所述对比检测所述目标类电阻器和所述第二类电阻器，得到检测结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述对比检测所述目标类电阻器和所述第二类电阻器，得到检测结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，所述对比检测所述目标类电阻器和所述第二类电阻器，得到检测结
<...【技术特征摘要】
1.一种电阻器检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，所述刺穿所述第一类电阻器的阻挡层，得到目标类电阻器，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，所述目标类电阻器和所述第二类电阻器包含多个对照子组，
4.根据权利要求3所述的方法，所述对比检测所述目标类电阻器和所述第二类电阻器，得到检测结果，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，所述对比检测所述目标类电阻器和所述第二类电阻器，得到...
【专利技术属性】
技术研发人员：史振亮，刘恒，郑学恒，张楠，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。