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本申请提供一种电阻器检测方法及相关设备,该方法包括:获取多组电阻器;电阻器包括基板、第一电极层以及阻挡层;多组电阻器中的每组电阻器的数量相同;将多组电阻器分为两类,得到第一类电阻器和第二类电阻器;第一类电阻器和第二类电阻器的组数相同;刺穿第...该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有,仅供学习研究参考,未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。
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本申请提供一种电阻器检测方法及相关设备,该方法包括:获取多组电阻器;电阻器包括基板、第一电极层以及阻挡层;多组电阻器中的每组电阻器的数量相同;将多组电阻器分为两类,得到第一类电阻器和第二类电阻器;第一类电阻器和第二类电阻器的组数相同;刺穿第...