图像传感器老炼试验装置及试验方法制造方法及图纸

本发明专利技术涉及图像传感器老炼试验装置及试验方法，装置包括上位机、测试主板、图像测试模块、接口夹具、高温试验箱和放置平台；一次同时对若干待测图像传感器进行老炼试验，一个图像测试模块用于完成一个待测图像传感器的老炼试验；依据待测图像传感器的型号选择适配的接口夹具及图像测试模块。老炼试验分为动态老炼试验和静态老炼试验两个阶段，通过灵活配置测试向量，实现动态老炼试验和静态老炼试验的切换，将两个阶段整合起来实现对图像传感器整体全方位的考核，提高了老炼试验筛选准确率；一次可同时对若干图像传感器进行老炼试验，提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及元器件性能、可靠性测试领域，具体涉及一种图像传感器老炼试验装置及试验方法。

技术介绍

1、图像传感器往往作为核心关键元器件，在卫星载荷乃至电动汽车上使用。基于其应用场景，对图像传感器的可靠性有特别高的要求，因此图像传感器出厂后需经过老炼试验，筛选出合格品再供给用户使用。

2、目前对图像传感器的老炼方法包括：待测试器件测完电性能及光电参数初值；在安装多个金属夹具的老炼板上安装待测试器件；通过稳压电源为待测试器件加上数字电源与模拟电源的静态偏置；移入高温试验箱中施加温度应力后开始进行老炼试验；通过间隔一定时间记录各路稳压电源上电流变化情况来判断试验过程中待测试器件运行状态；在老炼结束后进行常温下的电性能测试与光电参数测试，确认被测器件是否通过老炼试验。采用该老炼方法数据分析困难，测试效率低下，而且容易存在误判，影响了老炼试验筛选的准确率。

3、专利cn217404461u披露一种硅基器件的半导体高低温测试装置及硅基器件光学测试系统。该专利中采用基于珀耳帖效应的半导体制冷器以及温度传感器，通过pdi控制算法来维持温度传感器区本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.图像传感器老炼试验装置，其特征在于，包括上位机、测试主板、图像测试模块、接口夹具、高温试验箱和放置平台；

2.如权利要求1所述的图像传感器老炼试验装置，其特征在于，所述测试主板的向量模块设计为LVDS数据接口、低速串行接口、双向触发测试接口、JTAG接口；其中，低速串行接口用于上位机与图像测试模块的测试参数配置；双向触发测试接口用于触发图像测试模块产生一次采集动作，并在采集完成后通知测试主板进行图像数据接收；LVDS数据接口用于与图像测试模块进行图像数据传输；JTAG接口用于上位机通过测试主板在线、远程更新图像传感器的测试向量。

3.如权利要求2所述的图像传感...

【技术特征摘要】

1.图像传感器老炼试验装置，其特征在于，包括上位机、测试主板、图像测试模块、接口夹具、高温试验箱和放置平台；

2.如权利要求1所述的图像传感器老炼试验装置，其特征在于，所述测试主板的向量模块设计为lvds数据接口、低速串行接口、双向触发测试接口、jtag接口；其中，低速串行接口用于上位机与图像测试模块的测试参数配置；双向触发测试接口用于触发图像测试模块产生一次采集动作，并在采集完成后通知测试主板进行图像数据接收；lvds数据接口用于与图像测试模块进行图像数据传输；jtag接口用于上位机通过测试主板在线、远程更新图像传感器的测试向量。

3.如权利要求2所述的图像传感器老炼试验装置，其特征在于，所述图像测试模块包含二次电源模块，为待测图像传感器各路提供恒压电源，图像测试模块的恒压电源输出接口连接到接口夹具的芯片测试座，实现对待测图像传感器各路的供电；所述图像测试模块采集待测图像传感器各路输入电压、电流，用于电压电流检测；所述图像测试模块为待测图像传感器的各路提供过流保护；所述图像测试模块的数据输入接口连接到接口夹具的芯片测试座，实时采集待测图像传感器的图像数据；所述图像测试模块根据测试主板输出的测试向量产生时序逻辑电平信号，控制待测图像传感器各路加电断电，实现待测图像传感器不同工作状态下的测试；所述图像测试模块内置温度传感器。

4.如权利要求3所述的图像传感器老炼试验装置，其特征在于，所述图像测试模块向所述测试主板输出图像数据、温度数据、待测图像传感器各路的输入电压电流，并由所述测试主板传输给所述上位机，进行保存、显示。

5.如权利要求1...

【专利技术属性】
技术研发人员：金森磊，汪波，马林东，刘元，秦林生，琚安安，王昆黍，孔泽斌，
申请(专利权)人：上海航天技术基础研究所，
类型：发明
国别省市：