一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法技术

本发明专利技术提供一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，包括以下步骤，S1：选用多个单色光的光源或全波段光源以及探测器，且各光源及探测器都匹配设置匀光片；利用光源发出所需要波段的光线，经过光源匀光片进行光线的打散，使得光线均匀照射在待测样品上；S2：光线经过样品后产生发射，根据不同波长的光线照射在样品上的吸收率和反射率来进行判断；反射率是光线照射在样品上能够反射回来的光线强度相对于照射强度的比值；S3：反射光线经过探测器匀光片的再次匀光，之后进入探测器；探测器探测到不同波长光线的反射率；通过采集食物表面反射的多通道光谱数据，并结合适当的数据处理和算法，实现对食物烘焙度的实时检测和定量分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及食物烘焙度检测方法，尤其涉及一种ppg多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法。

技术介绍

1、烘焙度是由agtron公司创造的一种参数，用于检测食物的烘焙程度，如谷物类、面包类和豆类等食物的烘焙程度,在具体的应用中，目前在该领域主要存在以下两个问题：

2、一、连续性光谱检测成本高：使用连续光谱方法进行烘焙度检测的设备成本较高，因为这种方法需要昂贵的传感器成本，目前的台式机采用的是多光谱连续光谱方法，通过白光光栅分光并使用积分球进行测量。

3、二、便携式烘焙度检测仪误差大：现有的便携式烘焙度检测仪使用单一的红外光源（850nm波长）进行检测，这可能在浅色检测时产生较大的误差，并且测量过程中存在单一光源容易收到外界的影响。

4、基于这些问题，怎样才能有效的解决传统方法中成本高、误差大的问题，从而实现更准确、更经济的食物烘焙度检测，是本领域技术人员所研发和考虑的问题。

技术实现思路

1、本申请所解决的现有技术所存在的问题是：

2、传统的食物烘焙度检测采用连本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在于：包括以下步骤，

2.如权利要求1所述的一种PPG多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在于：所述步骤S4中，采用多元线性回归模型方法来计算agtron数值；预设五个波段的光谱强度，表示为 𝑥1,𝑥2,𝑥3,𝑥4,𝑥5，其中每个𝑥𝑖是一个预测器，代表一个特定波段的光谱强度；agtron数值为𝑦；所述多元线性回归模型则表示为y=β0+β1x1+β2x2+β3x3+β4x4+β5x5+ϵ；其中𝛽0是截距项；β1,β2,β3,β4,β5是模型参数，代表各波段对agtron数值影响的权重；ϵ是误差项...

【技术特征摘要】

1.一种ppg多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在于：包括以下步骤，

2.如权利要求1所述的一种ppg多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在于：所述步骤s4中，采用多元线性回归模型方法来计算agtron数值；预设五个波段的光谱强度，表示为 𝑥1,𝑥2,𝑥3,𝑥4,𝑥5，其中每个𝑥𝑖是一个预测器，代表一个特定波段的光谱强度；agtron数值为𝑦；所述多元线性回归模型则表示为y=β0+β1x1+β2x2+β3x3+β4x4+β5x5+ϵ；其中𝛽0是截距项；β1,β2,β3,β4,β5是模型参数，代表各波段对agtron数值影响的权重；ϵ是误差项，用于捕获模型无法解释的变异。

3.如权利要求2所述的一种ppg多通道光谱漫反射食物烘焙程度检测方法，其特征在于：所述步骤s4中，采用...

【专利技术属性】
技术研发人员：高丽玲，
申请(专利权)人：深圳市埃伯瑞科技有限公司，
类型：发明
国别省市：