一种存储测试装置及测试方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种存储测试装置及测试方法，包括：处理器，处理器通过多个通道与待测机电性连接，温度控制模块用于控制存储测试装置的放置环境温度；以及工作链控制模块，用于配置并调用待测机的工作链，其中工作链至少包括待测机的启动步骤、待测机的读写步骤和待测机的掉电处理步骤，以及待测机的工作状态调整步骤；功耗计算模块，电性连接于多个待测机，在工作链的每个节点记录对主控制器的供电电流，作为第一供电电流，并记录对闪存芯片的供电电流，作为第二供电电流，并根据第一供电电流和第二供电电流，以及对待测机的供电电压，获取待测机在工作链各节点的功耗数据。本发明专利技术能够准确高效地评估存储设备的性能。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及存储测试，特别涉及一种存储测试装置及测试方法。

技术介绍

1、内嵌式存储器（embedded multi media card，emmc）被广泛应用在电视机、机顶盒、平板电脑或手机等终端产品中。用户对emmc存储芯片的性能及可靠性提出了更高的要求。其中，emmc存储颗粒的性能稳定性是衡量存储产品的重要指标。emmc存储颗粒的性能则直接关系着客户端的用户体验。

2、然而，emmc存储颗粒的性能表现和emmc存储颗粒的待机时间，以及和emmc存储颗粒的功耗要求难以兼顾。并且存储产品的类型多样、应用场景多样，存储芯片会多次做出固件调整或是参数调整，以及测试中的干扰因素较多，因此导致emmc存储芯片的全方位检测难度较高，对存储芯片的准确定位和优劣判断是高难度的测试要求。

技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提供一种存储测试装置及测试方法，能够准确高效地评估存储设备的性能优劣。

2、为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：

3、本专利技术提供了一种存储本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括电源模块，所述电源模块电性连接于所述处理器、所述功耗计算模块和多个所述待测机，并为所述主控制器提供第一供电电压，为所述闪存芯片提供第二供电电压。

3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括多个插座，所述插座允许所述待测机插入，且所述插座具有第一供电端口、第二供电端口和数据传输端口，其中所述第一供电端口电性连接于所述电源模块和所述主控制器，所述供电第二端口电性连接于所述电源模块和所述闪存芯片，所述数据传输端口电性连接于所...

【技术特征摘要】

1.一种存储测试装置，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括电源模块，所述电源模块电性连接于所述处理器、所述功耗计算模块和多个所述待测机，并为所述主控制器提供第一供电电压，为所述闪存芯片提供第二供电电压。

3.根据权利要求2所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述存储测试装置包括多个插座，所述插座允许所述待测机插入，且所述插座具有第一供电端口、第二供电端口和数据传输端口，其中所述第一供电端口电性连接于所述电源模块和所述主控制器，所述供电第二端口电性连接于所述电源模块和所述闪存芯片，所述数据传输端口电性连接于所述主控制器和所述处理器，其中所述第一供电端口的电流为所述第一供电电流，所述第二供电端口的电流为所述第二供电电流。

4.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，位于同一存储测试装置中的多个待测机的位置类型相同。

5.根据权利要求1所述的一种存储测试装置，其特征在于，所述工作链控制模块输出所述工作链的调用控制指令，以启动所述待测机在所述工作链中的工作步骤，根据所述调用控制指令的调用顺序，所述工作链依次包括：所述待测机的上电步骤、所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：余玉，许展榕，
申请(专利权)人：合肥康芯威存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：