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本发明提供了一种存储测试装置及测试方法，包括：处理器，处理器通过多个通道与待测机电性连接，温度控制模块用于控制存储测试装置的放置环境温度；以及工作链控制模块，用于配置并调用待测机的工作链，其中工作链至少包括待测机的启动步骤、待测机的读写步骤...
该专利属于合肥康芯威存储技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过合肥康芯威存储技术有限公司授权不得商用。

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