图像校准方法、图像传感器及存储介质技术

本申请涉及辐射检测成像技术领域，公开了一种图像校准方法、图像传感器及存储介质，其中方法包括：使用至少一个辐射检测器，在多个拍摄位置拍摄校准图案的多个局部，获得多个局部图像；基于每个局部图像，确定获得每个局部图像的辐射检测器的、与辐射检测器在获得局部图像时位于的拍摄位置相关的校准数据集和拼接位置数据集，其中，校准数据集能够用于将辐射检测器在位于拍摄位置时获得的局部图像校准为局部校准图像，拼接位置数据集能够用于确定局部校准图像在与其他局部校准图像拼接时相对于其他局部校准图像的相对位置。本申请的方法简化了校准时的操作，降低了使用者获得校准数据集和拼接位置数据集的难度，提高了校准效率。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及辐射检测成像，特别是涉及一种图像校准方法、图像传感器及存储介质。

技术介绍

1、辐射检测器是可用于测量辐射的通量、空间分布、光谱或其他特性的装置。辐射检测器的一个重要应用是成像。辐射成像是一种放射线照相技术，可用于揭示非均匀组成和不透明物体(例如，人体)的内部结构。

2、在具有多个辐射检测器的图像传感器中，多个辐射检测器在多个拍摄位置拍摄物体的多个局部，获得多个局部图像，然后再将这些局部图像拼接，从而得到物体的整体图像。为了能够得到准确的整体图像，需要事先计算多个辐射检测器在空间中的相互位置关系，再根据这些关系计算如何将多个局部图像拼接。由于辐射检测器的安装位置的机械加工精度可能不足，以及有些时候这些辐射检测器的检测表面倾斜布置且排列成球冠状，导致拼接后的整体图像的失真率较高。

3、一种降低失真率的方法是在多个辐射检测器在多个拍摄位置拍摄物体的多个局部，获得多个局部图像之后，对每个局部图像进行校准，然后将校准后的多个局部图像拼接。如此，可以不必精确地测量多个辐射检测器在空间中的相互位置关系，但需要知道每个辐射检测器的与其位本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种图像校准方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的图像校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案由至少两种图标在二维空间沿两个相互正交的方向排列而成，所述图标的排列规则使得所述校准图案中的任意位置处的m×n尺寸的特征图标阵列在所述校准图案中是唯一的，其中，m和n为正整数，

4.根据权利要求3所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案的多个局部中的每个局部的面积均不小于(m+1)×(n+1)尺寸的图标阵列的面积。

5.根据权利要求3所述的图像校准方法，其特征...

【技术特征摘要】

1.一种图像校准方法，其特征在于，所述方法包括：

2.根据权利要求1所述的图像校准方法，其特征在于，所述方法还包括：

3.根据权利要求1所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案由至少两种图标在二维空间沿两个相互正交的方向排列而成，所述图标的排列规则使得所述校准图案中的任意位置处的m×n尺寸的特征图标阵列在所述校准图案中是唯一的，其中，m和n为正整数，

4.根据权利要求3所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案的多个局部中的每个局部的面积均不小于(m+1)×(n+1)尺寸的图标阵列的面积。

5.根据权利要求3所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案由所述至少两种图标按照二维德布鲁因序列排列而成。

6.根据权利要求5所述的图像校准方法，其特征在于，所述校准图案由4种图标按照二维德布鲁因序列排列而成，所述特征图标阵列为3×3尺寸。

7.根据权利要求3所述的图像校准方法，其特征在于，所述基于所述多个局部图像中的每个局部图像，确定获得所述每个局部图像的所述辐射检测器的、与所述辐射检测器在获得所述局部图像时位于的拍摄位置相关的校准数据集和拼接位置数据集，包括：

8.根据权利要求7所述的图像校准方法，其特征在于，所述特征图标阵列的所述校准参考图像为通过模拟所述特征图标阵列向图像平面投影的情形而生成的图像，所述校准图案的所述全局参考图像为通过模拟所述校准图案向所述图像平面投影的情形而生成的图像，其中，所述图像平面平行于所述校准图案的朝向所述辐射源的表面。

9.根据权利要求7所述的图像校准方法，其特征在于，在根据所述特征图标阵列的所述校准图像和/或所述特征图标阵列的所述校准参考图像在所述校准图案的所述全局参考图像中的位置以及所述局部校准图像，确定获得所述局部图像的所述辐射检测器的、与所述辐射检...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯铓，
申请(专利权)人：深圳帧观德芯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：