【技术实现步骤摘要】
本申请涉及电子器件的测试，尤其涉及一种微控制器测试方法、装置及系统。
技术介绍
1、在微控制器(microcontroller unit，mcu)的设计与制造过程中，样片测试环节对于确保产品性能和质量至关重要。相关技术进行样片测试时一般是采用多单板的方案，每块单板实现mcu引脚的部分功能测试，如需要更多功能验证时，所需的单板数量越多。相关技术进行样片测试时还采用的一种方式是采用专用的自动测试设备(automatic testequipment，ate)测试机台，实现对芯片的cp/ft(chip probing/final testing，芯片探针测试/最终测试)阶段进行批量测试。
2、专利技术人在实现本申请实施例的过程中发现，相关技术至少存在以下问题：多单板方案的切换导致测试效率低，适应性差；专用的ate测试机台存在设备采购和维护成本高的问题，增加了测试成本。
技术实现思路
1、本申请实施例的一个目的旨在提供一种微控制器测试方法、装置及系统，以解决如何提高测试效率，增强测试适应...
【技术保护点】
1.一种微控制器测试方法，其特征在于，应用于微控制器测试系统，所述微控制器测试系统包括固定装置、多个外围电路和待测试的微控制器，所述固定装置用于适配不同封装类型的微控制器，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试工具包括JTAG调试器和USB调试器，所述多个外围电路包括JTAG连接器、USB接口电路和多路复用器；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据接收到的所述功能测试命令，连接所述微控制器的引脚至相应的外围电路，以进行功能测试包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述外...
【技术特征摘要】
1.一种微控制器测试方法，其特征在于，应用于微控制器测试系统，所述微控制器测试系统包括固定装置、多个外围电路和待测试的微控制器，所述固定装置用于适配不同封装类型的微控制器，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述调试工具包括jtag调试器和usb调试器，所述多个外围电路包括jtag连接器、usb接口电路和多路复用器；
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据接收到的所述功能测试命令，连接所述微控制器的引脚至相应的外围电路，以进行功能测试包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，所述外围电路包括电源芯片和多路复用器，所述微控制器测试系统还包括电流检测设备，所述电流检测设备用于与所述电源芯片和所述微控制器连接，所述多路复用器与所述电源芯片连接，所述方法还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：代秋林，李涛，方达，吕整华，刘子铭，张德保，
申请(专利权)人：重庆览山汽车电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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