芯片测试系统、方法、装置及设备制造方法及图纸

本公开提供了一种芯片测试系统、方法、装置及设备，该系统包括指令发起端、通信板卡和第一资源板卡，第一资源板卡中设置有测试单元，指令发起端与通信板卡通信连接，通信板卡与测试单元通过至少两条传输线连接；通信板卡用于：对指令发起端发送的测试指令进行解析，从测试指令中识别出目标测试指令；通过至少两条传输线中的第一传输线向测试单元发送目标测试指令；通过至少两条传输线中的第二传输线向测试单元发送测试指令中的其它测试指令，在芯片测试系统中单独为目标测试指令增设传输通道，将目标测试指令与其它测试指令分通道传输，使得目标测试指令的传输延时可控，能够提高测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及芯片测试技术，尤其是一种芯片测试系统、方法、装置及设备。

技术介绍

1、芯片测试过程中，当需要对下位机的多个资源板卡同步进行软触发时，通常由上位机发起触发(trig)指令，通过业务总线传输至各个资源板卡，使各被测芯片同步完成测量动作。trig指令与其它指令共享通信资源，分享带宽，为了确保trig指令同步到达多个资源板卡使得测量动作同步进行，需要经过逻辑设计确保trig指令的仲裁优先级高于其它指令的优先级。

2、然而，trig指令与其它指令混合在一起传输时，需要对接收到的指令进行提前解包，将trig指令从中提取出来进行优先级控制，电路结构设计较为复杂。并且，当trig指令与其它指令混合在一起传输时，虽然trig指令优先级最高，但若存在当前有指令正在占用总线且并未传输完成的情况，trig也需要等待总线上的该指令传输完成后再发送，因此trig指令在总线上的延时仍然不可控，从而导致资源板卡整体的触发时间被迫延长，影响芯片测试效率。

技术实现思路

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【技术保护点】

1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括指令发起端、通信板卡和第一资源板卡，所述第一资源板卡中设置有测试单元，所述指令发起端与所述通信板卡通信连接，所述通信板卡与所述测试单元通过至少两条传输线连接；所述通信板卡，用于：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统包括至少两个测试单元，所述通信板卡包括相连接的第一通信单元和第二通信单元，所述指令发起端与所述第一通信单元通信连接，所述第一通信单元和所述第二通信单元分别与所述至少两个测试单元中不同的测试单元连接；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一通信单元与所述第二通信单元之间通过低电压差分...

【技术特征摘要】

1.一种芯片测试系统，其特征在于，所述系统包括指令发起端、通信板卡和第一资源板卡，所述第一资源板卡中设置有测试单元，所述指令发起端与所述通信板卡通信连接，所述通信板卡与所述测试单元通过至少两条传输线连接；所述通信板卡，用于：

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述系统包括至少两个测试单元，所述通信板卡包括相连接的第一通信单元和第二通信单元，所述指令发起端与所述第一通信单元通信连接，所述第一通信单元和所述第二通信单元分别与所述至少两个测试单元中不同的测试单元连接；

3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一通信单元与所述第二通信单元之间通过低电压差分信号lvds传输线连接，所述第一传输线为lvds传输线。

4.根据权利要求1至3任一所述的系统，其特征在于，所述指令发起端包括上位机和第二资源板卡中的至...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢佳星，王纪新，艾林，
申请(专利权)人：杭州长川科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：