【技术实现步骤摘要】
本公开涉及半导体，具体而言，涉及一种晶粒及其测试方法。
技术介绍
1、为了增加半导体产品的集成度，提高数据输出效率，在同一晶粒(die)中包括多个(两个或两个以上)输出通道。相关技术中，当同一晶粒包括多个输出通道时，由于测试机台的量测输入通道数量通常是固定的，由此导致测试机台同时能够测试的晶粒数量降低，降低了测试效率；或者，为了能够同时测试相同数量的晶粒，需要增加测试机台的数量，由此增大了测试成本。
技术实现思路
1、本公开实施例提供了一种晶粒，包括：输入电路、第一输出通道、第二输出通道和编码电路。其中，所述输入电路用于从测试机台的量测输出信道接收测试信号，所述第一输出通道和所述第二输出通道耦接为同一共享输出通道，所述编码电路用于将所述第一输出通道编码为主通道，并将所述第二输出通道编码为从通道，所述共享输出通道用于根据所述测试信号串行输出所述主通道中的第一测试数据和所述从通道中的第二测试数据，以将所述串行输出的所述第一测试数据和所述第二测试数据输入至所述测试机台的同一量测输入信道。
...【技术保护点】
1.一种晶粒，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路的第一输出端用于输出第一电平的第一开关控制信号以指示所述第一输出通道为主通道；所述测试信号包括延时信号；
3.如权利要求2所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路包括所述晶粒中的第一一次性编程存储单元。
4.如权利要求3所述的晶粒，其特征在于，所述第一一次性编程存储单元未烧录，以使所述编码电路的第一输出端输出所述第一电平的第一开关控制信号。
5.如权利要求1所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路的第二输出端用于输出第二电平的第二开关控制信号以...
【技术特征摘要】
1.一种晶粒，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路的第一输出端用于输出第一电平的第一开关控制信号以指示所述第一输出通道为主通道；所述测试信号包括延时信号；
3.如权利要求2所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路包括所述晶粒中的第一一次性编程存储单元。
4.如权利要求3所述的晶粒，其特征在于，所述第一一次性编程存储单元未烧录，以使所述编码电路的第一输出端输出所述第一电平的第一开关控制信号。
5.如权利要求1所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路的第二输出端用于输出第二电平的第二开关控制信号以指示所述第二输出通道为从通道；所述测试信号包括延时信号；
6.如权利要求5所述的晶粒，其特征在于，所述编码电路包括所述晶粒中的第二一次性编程存储单元。
7.如权利要求6所述的晶...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨龙，
申请(专利权)人：长鑫科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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