【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于电子化学品,具体涉及一种钼蚀刻液及其在纳米级钼蚀刻中的应用。
技术介绍
1、3d nand技术作为一种革命性的存储技术,是通过垂直堆叠存储单元来突破传统2d nand的物理限制。这种技术允许在相同的物理空间内集成更多的存储单元,从而显著提高存储密度。与平面nand相比,3d nand通过多层堆叠,实现了更高的容量和更高的工作性能。
2、钼作为半导体器件中的关键金属层,因其优异的导电性和热稳定性,被广泛应用于集成电路的生产中,钼层的精细加工,尤其是蚀刻工艺,对于保证元件的性能至关重要。高精度的蚀刻液可实现对钼膜的精确图形化,这是实现微缩化和高集成密度电路的前提。
3、然而,随着行业对元件尺寸和性能要求的不断提升,钼蚀刻工艺正面临越来越高的挑战。传统的湿法化学蚀刻虽然成本相对较低,但难以应对亚微米或纳米级的精密加工需求。此外,蚀刻速率也是一个核心的参数,直接影响着生产效率和产品质量,现有的蚀刻液中表现出来的蚀刻速率过快,从而导致蚀刻不均匀,造成钼层表面粗糙,甚至损伤下层结构,影响最终的性能。 因此,蚀刻
...【技术保护点】
1.一种钼蚀刻液,其特征在于,该蚀刻液包括按质量分数计的以下成分:5-25%的碱性溶液、1-10%的氧化剂、0.1-3%的缓蚀剂和0.05-0.3%的金属螯合剂,其余为水。
2.根据权利要求1所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述的碱性溶液为氨水、四甲基氢氧化铵溶液或氢氧化钾溶液中的一种。
3.根据权利要求2所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述碱性溶液的质量分数为10-20%,溶剂为水。
4.根据权利要求1所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述的氧化剂为双氧水、高碘酸的水溶液、次氯酸钠的水溶液或高锰酸钾的水溶液中的任意一种。
5.根据权
...【技术特征摘要】
1.一种钼蚀刻液,其特征在于,该蚀刻液包括按质量分数计的以下成分:5-25%的碱性溶液、1-10%的氧化剂、0.1-3%的缓蚀剂和0.05-0.3%的金属螯合剂,其余为水。
2.根据权利要求1所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述的碱性溶液为氨水、四甲基氢氧化铵溶液或氢氧化钾溶液中的一种。
3.根据权利要求2所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述碱性溶液的质量分数为10-20%,溶剂为水。
4.根据权利要求1所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述的氧化剂为双氧水、高碘酸的水溶液、次氯酸钠的水溶液或高锰酸钾的水溶液中的任意一种。
5.根据权利要求1所述的钼蚀刻液,其特征在于:所述氧化剂中溶质的...
【专利技术属性】
技术研发人员:叶瑞,罗佳杨,苏张轩,贺兆波,张庭,冯凯,王书萍,班昌胜,严凡,李素云,樊澌,李飞,王宏博,
申请(专利权)人:湖北兴福电子材料股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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