对接结构及测试设备制造技术

技术编号:43981943 阅读:17 留言:0更新日期:2025-01-10 20:06
本申请涉及一种对接结构及测试设备。对接结构包括主体、PIN针及防护盖。防护盖可往复移动地连接于主体,以相对主体在对接位置和防护位置之间切换,且防护盖贯穿开设有供PIN针穿过防护孔;当防护盖移动至防护位置时,防护盖与主体围合形成有与防护孔连通的防护空间,PIN针靠近防护盖的端部收容于防护孔和/或防护空间内;当防护盖移动至对接位置时,PIN针靠近防护盖的端部伸出防护孔。采用上述的对接结构及测试设备,测试结束后,将防护盖移动至防护位置,PIN针的端部收容于防护孔和/或防护空间内,从而避免PIN针的端部因直接暴露在空气中而受到外界的污染,避免影响PIN针的信号传输,确保测试效果的准确。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及测试设备,特别是涉及一种对接结构及测试设备


技术介绍

1、现有的用于测试的设备一般是通过pin针与待测试设备之间进行信号传输。但是现有的测试设备中,pin针用于与待测试设备对接的端部直接暴露在空气中,容易受到外界的污染,导致在使用过程中影响信号传输,进而影响测试效果。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对测试设备的pin针的端部暴露在外界容易受到污染,影响信号传输的问题,提供一种避免pin针受到污染,确保测试效果的对接结构及测试设备。

2、一种对接结构,包括:

3、主体和pin针,所述pin针连接于所述主体;及

4、防护盖,可往复移动地连接于所述主体,以相对所述主体在对接位置与防护位置之间切换;且所述防护盖贯穿开设有供所述pin针穿过的防护孔;

5、其中,当所述防护盖移动至所述防护位置时,所述防护盖与所述主体围合形成有与所述防护孔连通的防护空间,所述pin针靠近所述防护盖的端部收容于所述防护孔和/或所述防护空间内;当所述防护盖移动至所述对接位置时,所本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种对接结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的对接结构,其特征在于,所述对接结构还包括复位件,所述复位件设置于所述主体与所述防护盖之间。

3.根据权利要求2所述的对接结构,其特征在于,所述主体朝向所述防护盖的一侧开设有第一安装孔,所述防护盖朝向所述主体的一侧开设有与所述第一安装孔相对应的第二安装孔,所述复位件的两端分别伸入于所述第一安装孔和所述第二安装孔内。

4.根据权利要求1所述的对接结构,其特征在于,所述对接结构还包括连接件,所述连接件连接于所述主体,所述防护盖沿所述PIN针的长度方向可往复移动地连接于所述连接件

5....

【技术特征摘要】

1.一种对接结构,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的对接结构,其特征在于,所述对接结构还包括复位件,所述复位件设置于所述主体与所述防护盖之间。

3.根据权利要求2所述的对接结构,其特征在于,所述主体朝向所述防护盖的一侧开设有第一安装孔,所述防护盖朝向所述主体的一侧开设有与所述第一安装孔相对应的第二安装孔,所述复位件的两端分别伸入于所述第一安装孔和所述第二安装孔内。

4.根据权利要求1所述的对接结构,其特征在于,所述对接结构还包括连接件,所述连接件连接于所述主体,所述防护盖沿所述pin针的长度方向可往复移动地连接于所述连接件。

5.根据权利要求4所述的对接结构,其特征在于,所述连接件包括连接部及活动部,所述连接部连接于所述主体,所述活动部形成于所述连接部背离所述主体的一端,所述防护盖沿所述pin针的长度方向可往复移动地连接于所述活动部。

6.根据权利要求5所述的对接结构...

【专利技术属性】
技术研发人员:盛伟峰国岩
申请(专利权)人:杭州长川科技股份有限公司
类型:新型
国别省市:

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