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本申请涉及一种对接结构及测试设备。对接结构包括主体、PIN针及防护盖。防护盖可往复移动地连接于主体，以相对主体在对接位置和防护位置之间切换，且防护盖贯穿开设有供PIN针穿过防护孔；当防护盖移动至防护位置时，防护盖与主体围合形成有与防护孔连通...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。

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