封装结构及其制作方法、电子设备技术

技术编号:43966936 阅读:12 留言:0更新日期:2025-01-10 19:56
本公开提供一种封装结构及其制作方法、电子设备,封装结构的制作方法包括:在第一晶圆的第一侧上形成芯片散热器的微通道结构,其中,在所述第一晶圆的与第一侧相对的第二侧上形成有器件层;将所述第一晶圆与空的第二晶圆键合形成第三晶圆,使得所述第二晶圆覆盖所述微通道结构。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体,尤其涉及一种封装结构及其制作方法、电子设备


技术介绍

1、芯片的制程工艺向更小尺寸微缩,使得芯片功耗和热流密度不断攀升,加之2.5d,3d异构芯片的快速发展,芯片内部存在严重散热问题。芯片级液冷散热设计通过在芯片封装内部设计微尺度通道(通道宽度在几微米到几百微米之间),使液体工质直接从芯片内部带走热量,大大降低芯片内热阻或者界面热阻。目前,芯片级液冷散热器的制造方法是业界关注的问题。


技术实现思路

1、本公开提供一种封装结构及其制作方法、电子设备,能够提供一种制造包含芯片级液冷散热器的封装结构的可行方法。

2、第一方面,本公开提供一种封装结构的制作方法,包括:

3、在第一晶圆的第一侧上形成芯片散热器的微通道结构,其中,在所述第一晶圆的与第一侧相对的第二侧上形成有器件层;

4、将所述第一晶圆与空的第二晶圆键合形成第三晶圆,使得所述第二晶圆覆盖所述微通道结构。

5、在一些实施例中,还包括:

6、将所述第三晶圆切片和封装成多个第一芯片封本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种封装结构的制作方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求3所述的制作方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的制作方法,其特征在于,所述形成多个具有芯片散热器的分液结构的第二芯片的步骤包括:

6.根据权利要求1至4中任一项所述的制作方法,其特征在于,在所述将所述第一晶圆与空的第二晶圆键合形成第三晶圆的步骤中,键合温度小于400℃。

7.根据权利要求1至4中任一项所述的制作方法,...

【技术特征摘要】

1.一种封装结构的制作方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,还包括:

3.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,还包括:

4.根据权利要求3所述的制作方法,其特征在于,还包括:

5.根据权利要求1至4中任一项所述的制作方法,其特征在于,所述形成多个具有芯片散热器的分液结构的第二芯片的步骤包括:

6.根据权利要求1至4中任一项所述的制作方法,其特征在于,在所述将所述第一晶圆与空的第二晶圆键合形成第三晶圆的步骤中,键合温度小于400℃。

7.根...

【专利技术属性】
技术研发人员:孟福生严斌武祥为孙俭俊庞健李光耀欧阳可青
申请(专利权)人:深圳市中兴微电子技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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