【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及天线数据处理，具体涉及一种天线罩电性能测量方法、装置及设备。
技术介绍
1、天线罩电性能测量方法，是检测天线罩样件的电性能是否满足设计指标的重要手段，有助于确保天线系统在实际应用中的通信质量不受负面环境影响，同时根据天线罩电性能测量结果可以最小化天线罩对天线性能的影响，可以确保天线性能的有效性。
2、现有的天线罩电性能测量，大多基于一个大型的、具有六轴自由度的旋转装夹设备和具有远场距离的大暗室的测量系统来获取。但是该测量系统包含的装置存在设计加工周期长、成本高的问题，难以应用于一般的中小暗室。另一种有效的测量方式是，在三轴自由度的天线转台上直接固定一个天线罩夹具，该方法的优势在于体积轻，安装便捷，不过该测量方法存在天线转台与天线罩夹具的旋转中心不重合和远场距离不够的问题，进而可能会导致天线罩电性能测试不准确的问题。
技术实现思路
1、为了解决现有技术中所存在的上述问题，本专利技术提供了一种天线罩电性能测量方法、装置及设备。
2、本专利技术要解决的技术问...
【技术保护点】
1.一种天线罩电性能测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述对所述预设转台角度基于所述天线罩系统进行补偿处理，得到远场空间角，包括：
3.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述利用所述预设转台角度对所述初始近场信息值进行频谱转换处理，得到转换结果，包括：
4.根据权利要求1或3所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述转换结果表示为：
5.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述预设辐射特性补偿模型表示为：
6.根据权...
【技术特征摘要】
1.一种天线罩电性能测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述对所述预设转台角度基于所述天线罩系统进行补偿处理，得到远场空间角，包括：
3.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述利用所述预设转台角度对所述初始近场信息值进行频谱转换处理，得到转换结果，包括：
4.根据权利要求1或3所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述转换结果表示为：
5.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述预设辐射特性补偿模型表示为：
6.根据权利要求1所述的天线罩电性能测量方法，其特征在于，所述预设辐射特性补偿模型的拟合过程包括：
7.根据权利要求6所述的天线罩电性能测量方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴凯，许万业，李威亨，王同天，魏子涵，罗志强，李晨浩，杜飞，李鹏，
申请(专利权)人：西安电子科技大学，
类型：发明
国别省市：
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