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本发明提供了一种天线罩电性能测量方法、装置及设备。方法包括：获取预设转台角度，并基于天线罩系统中的接收天线获取透过待测天线罩的初始近场信息值；天线罩系统包括：三轴自由度天线转台、接收天线、发射天线以及待测天线罩；待测天线罩与接收天线通过装夹...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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