【技术实现步骤摘要】
本申请涉及缺陷检测，尤其是涉及一种基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统。
技术介绍
1、目前，aoi (automated optical inspection，自动化光学检测)技术已广泛应用于各类工业生产中，如农业、遥感、医疗、安全检查等；然而，传统的aoi技术主要关注产品表面缺陷的检测，对于产品内部结构和深层缺陷的检测能力有限；目前，对于产品内部结构和深层缺陷的检测，常采用x射线、超声波等技术，但这些方法存在成本较高、操作复杂以及对操作人员技能要求高等问题；难以满足现代工业生产对效率和成本的要求。
技术实现思路
1、为了提供一种便于满足现代工业生产对效率和成本要求的产品缺陷检测方式，本申请提供一种基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法及系统。
2、第一方面，本申请的专利技术目的采用如下技术方案实现：
3、基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，包括检测装置，所述检测装置包括多光谱成像模块和至少一个可移动探头，所述可移动探头根据控制...
【技术保护点】
1.基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，包括检测装置，所述检测装置包括多光谱成像模块和至少一个可移动探头，所述可移动探头根据控制指令可沿待检测产品表面和内部移动，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，所述对预处理的初始多光谱图像和多光谱图像数据进行产品内部的缺陷特征检测，得到产品缺陷检测结果，包括：
3.根据权利要求2所述的基于AOI多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的缺陷分类标准对所述初始的产品缺陷检测结果进行分类，确定缺陷的分类...
【技术特征摘要】
1.基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，包括检测装置，所述检测装置包括多光谱成像模块和至少一个可移动探头，所述可移动探头根据控制指令可沿待检测产品表面和内部移动，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，所述对预处理的初始多光谱图像和多光谱图像数据进行产品内部的缺陷特征检测，得到产品缺陷检测结果，包括：
3.根据权利要求2所述的基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，所述基于预设的缺陷分类标准对所述初始的产品缺陷检测结果进行分类，确定缺陷的分类类型和缺陷成因，得到缺陷检测分类信息之后，还包括：
4.根据权利要求1所述的基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，还包括：
5.根据权利要求1所述的基于aoi多光谱成像的产品内部结构缺陷检测方法，其特征在于，所述基于所述产品缺陷检测结果获取对应的空间位置信息...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑建国，罗小平，李蓉华，
申请(专利权)人：崇辉半导体江门有限公司，
类型：发明
国别省市：
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