半导体器件及其制备方法、电子设备技术

技术编号:43901927 阅读:10 留言:0更新日期:2025-01-03 13:13
半导体器件及其制备方法、电子设备。半导体器件包括基底、着陆焊盘、第一互连层、电容器、多个层间介质层、接触插塞以及第二互连层。基底包括具有第一晶体管的阵列区和具有第二晶体管的外围区。着陆焊盘位于阵列区并电连接第一晶体管。第一互连层位于外围区并电连接第二晶体管。电容器位于阵列区并通过着陆焊盘电连接第一晶体管。多个层间介质层覆盖第一互连层,其具有暴露第一互连层的一部分的接触孔,接触孔在多个层间介质层中底层的最大孔径大于其在多个层间介质层中顶层的最小孔径。接触插塞填充于接触孔内并接触第一互连层。第二互连层位于多个层间介质层上并接触接触插塞。上述半导体器件可以改善接触插塞和第一互连层之间的接触电阻。

【技术实现步骤摘要】

本公开实施例涉及半导体,尤其涉及一种半导体器件及其制备方法、电子设备


技术介绍

1、动态随机存取存储器(dynamic random access memory,dram)是一种半导体存储器。和静态存储器相比,dram存储器具有结构较为简单、制造成本较低、容量密度较高的优点,随着技术的发展,dram存储器的应用日益广泛。

2、为了实现数据信息的存储或者读取,互连结构是dram存储器中不可或缺的结构,通常互连层通过与器件中的接触插塞连接将信号引出,然而目前接触插塞与互连层的导电结构的接触电阻较大,降低了半导体器件的良率。


技术实现思路

1、根据本公开实施例的第一方面,提供一种半导体器件包括:基底,包括阵列区和环绕阵列区的外围区,阵列区包括第一晶体管,外围区包括第二晶体管;着陆焊盘,位于阵列区,并电连接第一晶体管;第一互连层,位于外围区,并电连接第二晶体管;电容器,电容器位于阵列区,并通过着陆焊盘电连接第一晶体管;多个层间介质层,多个层间介质层覆盖第一互连层,多个层间介质层中具有接触孔,接触孔暴露第本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,底部的所述接触孔的孔径呈先增大后减小的趋势,或者,孔径呈逐渐增大的趋势。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料。

4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层包括:

5.一种半导体器件的制备方法,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料,且二者同时形成。...

【技术特征摘要】

1.一种半导体器件,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,底部的所述接触孔的孔径呈先增大后减小的趋势,或者,孔径呈逐渐增大的趋势。

3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料。

4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层包括:

5.一种半导体器件的制备方法,其特征在于,包括:

6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料,且二者同时形成。

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【专利技术属性】
技术研发人员:严勋
申请(专利权)人:长鑫科技集团股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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