【技术实现步骤摘要】
本公开实施例涉及半导体,尤其涉及一种半导体器件及其制备方法、电子设备。
技术介绍
1、动态随机存取存储器(dynamic random access memory,dram)是一种半导体存储器。和静态存储器相比,dram存储器具有结构较为简单、制造成本较低、容量密度较高的优点,随着技术的发展,dram存储器的应用日益广泛。
2、为了实现数据信息的存储或者读取,互连结构是dram存储器中不可或缺的结构,通常互连层通过与器件中的接触插塞连接将信号引出,然而目前接触插塞与互连层的导电结构的接触电阻较大,降低了半导体器件的良率。
技术实现思路
1、根据本公开实施例的第一方面,提供一种半导体器件包括:基底,包括阵列区和环绕阵列区的外围区,阵列区包括第一晶体管,外围区包括第二晶体管;着陆焊盘,位于阵列区,并电连接第一晶体管;第一互连层,位于外围区,并电连接第二晶体管;电容器,电容器位于阵列区,并通过着陆焊盘电连接第一晶体管;多个层间介质层,多个层间介质层覆盖第一互连层,多个层间介质层中具有
...【技术保护点】
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,底部的所述接触孔的孔径呈先增大后减小的趋势,或者,孔径呈逐渐增大的趋势。
3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料。
4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层包括:
5.一种半导体器件的制备方法,其特征在于,包括:
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料,且
...【技术特征摘要】
1.一种半导体器件,其特征在于,包括:
2.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,底部的所述接触孔的孔径呈先增大后减小的趋势,或者,孔径呈逐渐增大的趋势。
3.根据权利要求1所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料。
4.根据权利要求1-3任一项所述的半导体器件,其特征在于,所述多个层间介质层包括:
5.一种半导体器件的制备方法,其特征在于,包括:
6.根据权利要求5所述的制备方法,其特征在于,所述多个层间介质层中包含与所述电容器中电容介质层相同的材料,且二者同时形成。
...
【专利技术属性】
技术研发人员:严勋,
申请(专利权)人:长鑫科技集团股份有限公司,
类型:发明
国别省市:
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